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TL431失效分析1、客户描述：输出电压低，不稳压，电压跳动；2、失效器件分析结果：芯片烧毁，引线阻性碳化；3、客户要求：提供维修后的样机一个，要求验证失效类型；4、样机描述：电源规格为28v1.5a产品，光耦PC817和TL431有拆焊痕迹，其中TL431虽然有拆焊过，但还是原来PCB板上的器件，经后续装机测试为正品，见右上角照片，批号为：。5、建立测试验证模型：输入电压220V-MAX60W，输出负载10030W，示波器单通道观察输出电压波形，测量结果以照片形式提供；6、原理图： 恕不提供，受保密条例限制。7、备注：上图中的第四点描述错误，更正为：此时KA之间的电压为电源电压，光耦失电后前级不受控，典型表现为C点电压升高，因C点电压升高，TL431基准端电压上升，控制KA端最大导通状态，KA之间等效为短路状态，无法承受C点的高压大电流而瞬间烧毁；8、验证参考PCB板：见如下图片和标注点；9、验证过程：见图片和文字描述；【图片一】：正常输出波形，电压为直流28.2V。
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