MSA分析报告.doc

1、XXX公司计量型 MSA 分析报告日 期： 实 施 人：评 价 人：仪器名称：仪器编号：分析结论： 合格 不合格审 核：批 准：XX/840-004B:L20170032017年 2月 23日陈秋凤、雷丽花、欧阳丽敏张志超数显卡尺（中间检验）XXX计量型 MSA 分析报告目录稳定性 1偏倚 4线性 7重复性和再现性 9备注: 对于有条件接收的项目应阐述接受原因.XX 公司质量部 第 1 页 /共 13 页第一节 稳定性分析1.1 稳定性概述在经过一段长时间下，用相同的测量系统对同一基准或零件的同一特性进行测量所获得的总变差，即稳定性是整个时间的偏倚变化。1.2 试验方案2017 年 02 月份

2、，随机抽取一常见 印制板 样品，让 中间检验员工 每天的早上及晚上分别使用 数显卡尺 对样品 外形尺寸 测量 5次/组，共测量 25组数据，并将每次测量的数据记录在表 1。1.3 数据收集表 1 稳定性分析数据收集记录表操作者 陈秋凤 测量日期 2017-02-042017-02-20测量结果/单位：_mm_测量时间第 1次 第 2次 第 3次 第 4次 第 5次时段 1 65.23 65.23 65.23 65.24 65.23时段 2 65.23 65.23 65.23 65.23 65.23时段 3 65.24 65.23 65.23 65.24 65.24时段 4 65.24 65.2

3、4 65.24 65.23 65.24时段 5 65.23 65.24 65.23 65.23 65.23时段 6 65.24 65.24 65.24 65.24 65.24时段 7 65.24 65.23 65.24 65.24 65.24时段 8 65.24 65.23 65.23 65.24 65.23时段 9 65.23 65.24 65.23 65.23 65.23时段 10 65.23 65.23 65.23 65.23 65.23时段 11 65.24 65.23 65.23 65.24 65.24时段 12 65.24 65.24 65.24 65.24 65.23时段 13

4、65.24 65.23 65.23 65.24 65.23XX 公司质量部 第 2 页 /共 13 页操作者 陈秋凤 测量日期 2017-02-042017-02-20测量时间测量结果/单位：_mm_第 1次 第 2 次 第 3次 第 4次 第 5次时段 14 65.23 65.23 65.23 65.23 65.23时段 15 65.24 65.24 65.23 65.23 65.24时段 16 65.23 65.23 65.24 65.23 65.23时段 17 65.23 65.24 65.23 65.23 65.23时段 18 65.24 65.24 65.24 65.24 65.23

5、时段 19 65.24 65.23 65.23 65.23 65.23时段 20 65.24 65.24 65.24 65.24 65.24时段 21 65.23 65.23 65.24 65.23 65.23时段 22 65.24 65.24 65.23 65.24 65.24时段 23 65.23 65.24 65.24 65.23 65.23时段 24 65.23 65.24 65.24 65.24 65.24时段 25 65.23 65.23 65.23 65.23 65.231.4 测量系统稳定性可接受判定标准1.4.1 不允许有超出控制限的点；1.4.2 连续 7点位于中心线同一侧

6、；1.4.3 连续 6点上升或下降；1.4.4 连续 14点交替上下变化；1.4.5 连续 3点有 2点距中心的距离大于两个标准差；1.4.6 连续 5点中有 4点距离中心线的距离大于一个标准差；1.4.7 连续 15点排列在中心线的一个标准差范围内；1.4.8 连续 8点距中心线的距离大于一个标准差。XX 公司质量部 第 3 页 /共 13 页1.5 数据分析25232119171513119753165.240065.237565.235065.232565.2300样 本样本均值 _X =65.23448+3SL=65.24012-3SL=65.22884+2SL=65.23824-2S

7、L=65.23072+1SL=65.23636-1SL=65.232602523211917151311975310.0200.0150.0100.0050.000样 本样本极差 _R=0.00978+3SL=0.02069-3SL=0+2SL=0.01705-2SL=0.00251+1SL=0.01342-1SL=0.00615中 间 检 验 _数 显 卡 尺 (0-150mm) 的 Xbar-R 控 制 图图 1 中间检验_数显卡尺 Xbar-R 控制图从图 1 Minitab生成 Xbar-R控制图可知， 没有 控制点超出稳定性可接受判定标准，表明该测量系统稳定性 可接受 。1.6 测量

8、系统稳定性分析结果判定对 中间检验_数显卡尺 进行稳定性分析，分析结果表明该测量系统稳定性 可接受 。XX 公司质量部 第 4 页 /共 13 页第二节 偏倚分析2.1 偏倚分析概述对相同零件上同一特性的观测值与真值（参考值）的差异。2.2 试样方案2.2.1选择一个被测样品,确定样品的 外形尺寸 基准值 ，样品 外形尺寸 基准值通x过_铣边工序所使用的泛用型尺寸测量机重复测量 10次取测量均值 获得。2.2.2 让经常使用该量具的检验员测量样品 15次,每次读数记为 (i为第 i次测量)。i2.3 数据收集表 2 偏倚分析数据收集记录表操作者 陈秋凤 测量时间 2017-01-21 单位 m

9、m测量次数 测量结果 测量次数 测量结果1 97.02 9 97.022 97.02 10 97.023 97.01 11 97.024 97.02 12 97.015 97.02 13 97.026 97.02 14 97.027 97.01 15 97.028 97.02 / /2.4 测量系统偏倚可接受判定标准若 0在偏倚 95%可信度的置信区间范围内，可以在统计上判定测量系统的偏倚等于零，而这种判定犯错的可能性为 5%，此时可判定测量系统偏倚可接受XX 公司质量部 第 5 页 /共 13 页2.5 数据分析2.5.1 根据测量所得数据，将数据记录于表 3，并计算测量结果的平均值 。x=

10、 xnirn12.5.2 计算偏倚 B。B = - x2.5.3 计算重复性标准差 。r*2dxxiir ）最 小 值 （）最 大 值 （ 2.5.4 计算均值 的标准差 。xbnrb2.5.5 偏倚 95%可信度的置信区间上限及下限计算方式。上限： 2/1,*2vbtdB下限： 2/1,*2vbtXX 公司质量部 第 6 页 /共 13 页表 3 偏倚分析记录表评价人 张志超 分析时间 2017-01-21单位：mm 单位：mm测量次数读数 偏倚测量次数读数 偏倚1 97.02 0.002 9 97.02 0.0022 97.02 0.002 10 97.02 0.0023 97.01 -0

11、.008 11 97.02 0.0024 97.02 0.002 12 97.01 -0.0085 97.02 0.002 13 97.02 0.0026 97.02 0.002 14 97.02 0.0027 97.01 -0.008 15 97.02 0.0028 97.02 0.002基准值 x 测量次数 n 平均值 x偏倚 B复性标准差 r均值 的标准x差 b97.018 15 97.017 0.001 0.0028 0.0007偏倚 95%的置信区间d2 *2d自由度 v 2/1,vt下限 上限3.47191 3.5533 10.8 2.206 -0.0006 0.0026注：d 2

12、、 、v、 可查表获得，具体参考ZW4 DD-034B0 MSA 测量系统分析管理办法 。*2/1,t2.5.6 从表 3数据分析， 数显卡尺 测量偏倚为 0.001mm ，偏倚值 95%的置信区间为 -0.0006 , 0.0026 ,因为 0 在 上述偏倚值的 95%置信区间范围内，所以该测量系统偏倚 可接受 。2.6 测量系统偏倚分析结果判定对 中间检验_数显卡尺_ 进行偏倚分析，分析结果表明该测量系统偏倚 可接受 。XX 公司质量部 第 7 页 /共 13 页第三节 线性分析3.1 线性分析概述在测量设备预期的工作（测量）量程内，偏倚值的差异，线性可被视为偏倚对于量程大小不同所发生的变

13、化。3.2 试验方案3.2.1 选择 5个样品,且这 5个样品 外形尺寸 涵盖量具的整个工作量程。3.2.2 确定每个样品的 外形尺寸 ， 各样品外形尺寸 通过铣边工序所使用的泛用型ix尺寸测量机重复测量 10次取测量均值 获得。3.2.3 让经常使用该测量工具的检验员分别对每个样品测量 12次，并将对应测量结果记录在表 4中，其中 i为样品编号，j 为测量次数。ijx3.3 数据收集表 4 线性分析数据收集记录表操作者 陈秋凤 测量时间 2017-01-22 单位 mm样品编号 i读数测量次数 j1 2 3 4 51 17.89 39.97 66.78 105.02 146.622 17.8

14、9 39.97 66.78 105.02 146.613 17.89 39.97 66.78 105.01 146.624 17.89 39.97 66.78 105.02 146.625 17.90 39.97 66.78 105.02 146.626 17.89 39.98 66.78 105.02 146.627 17.89 39.97 66.78 105.01 146.618 17.90 39.97 66.78 105.02 146.629 17.89 39.97 66.78 105.02 146.6210 17.89 39.97 66.78 105.02 146.6211 17.89

15、 39.97 66.78 105.02 146.6212 17.89 39.97 66.78 105.02 146.62基准值 17.890 39.967 66.790 104.971 146.644 XX 公司质量部 第 8 页 /共 13 页3.4 测量系统线性可接受判定标准“偏倚=0”的整条直线都在置信区间范围内，则判定测量系统的线性可接受，否则需要分析原因改善。3.5 数据分析160120804000.060.040.020.00-0.02-0.04参 考 值偏倚0回 归95% 置 信 区 间数 据平 均 偏 倚常 量 0.007499 0.006141 0.227斜 率 -0.000

16、05402 0.00006962 0.441自 变 量 系 数 系 数 标 准 误 P量 具 线 性S 0.0248145 R-Sq 1.0%平 均 0.0034333 0.00017.89 0.0016667 0.08539.967 0.0038333 0.00266.79 -0.0100000 *104.971 0.0473333 0.000146.644 -0.0256667 0.000参 考 偏 倚 P量 具 偏 倚量 具 名 称 : 数 显 卡 尺 （ 中 间 检 验 ）研 究 日 期 : 2017-02-22报 表 人 : 张 志 超公 差 : 0.15mm其 他 : ZEA-2014-H070测 试 数 据 的 量 具 线 性 和 偏 倚 研 究图 2 中间检验_数显卡尺 线性分析图从图 2 Minitab生成的线性图分析， “偏倚=0”的整条直线 在 置信区间内，表明该测量系统线性 可接受 。3.6 测量系统线性分析结果判定对 中间检验_数显卡尺 进行线性分析，分析结果表明该测量系统线性 可接受 。