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一种超低温漂的带隙基准电压源.doc

1、1一种超低温漂的带隙基准电压源摘要:为提高带隙基准电压源的温度特性,采用 Buck 电压转移单元产生的正温度系数对 VBE 的负温度系数进行高阶曲率补偿.同时使用共源共栅结构(Cascode)提高电源抑制比(PSRR).电路采用 0.5 m CMOS 工艺实现,在 5 V 电源电压下,基准输出电压为 996.72 mV,温度范围在-25125 时电路的温漂系数为 1.514 ppm/;当电源电压在2.55.5 V 变化时,电压调整率为 0.4 mV/V,PSRR 达到 59.35 dB. 关键词:带隙基准电压源;低温度系数;高阶补偿;集成电路 中图分类号:TN432 文献标识码:A An Ul

2、tra-low Temperature Coefficient Bandgap Voltage Reference QIU Yu-song, ZENG Yun, PU Ya-nan (College of Physics and Microelectronics Science,Hunan Univ,Changsha,Hunan 410082, China) Abstract: In order to improve the temperature characteristics of bandgap voltage reference, this paper took advantage o

3、f Bucks voltage transfer cell generating a positive temperature coefficient to provide a high-order curvature compensation of VBE. And Cascode structure was used to improve the power supply rejection ratio (PSRR). The circuit was 2simulated in 0.5 m CMOS process. The output voltage of bandgap refere

4、nce is 996.72 mV under 5 V supply available, and a temperature coefficient of 1.514 ppm/ can be achieved over the temperature varying from -25 to 125 . The PSRR reaches 59.35 dB and an average line regulation reaches 0.4 mV/V when power supply changes from 2.5 to 5.5 V. Key words: bandgap voltage re

5、ference;low temperature coefficient;high-order compensation;integrated circuit 基准源在集成电路中的作用是提供准确的电压或电流,它是模拟集成电路的核心组成部分,而其中带隙基准电压源由于具有高电源抑制比及长期稳定等优点,而被广泛地应用在 A/D 和 D/A 转换器、低压差线性稳压器(LDO) 、高精度比较器、存储器等集成电路中.传统的带隙基准电路仅仅补偿了一阶温度项,而 VBE 的高阶项才是限制温度特性的关键因素1.因此,设计低温漂系数带隙基准源是十分必要的. 近年来,国内外提出了多种不同的高阶补偿技术来改善基准电路的

6、温度特性.Cao 等提出了利用动态基础泄漏补偿技术来进行高阶补偿,使基准电压在-40125 范围内温漂系数达到 15 ppm/2;Malcovati等利用双极晶体管电压差进行温度补偿,温漂系数在 080 内降至7.53,但该电路存在电阻回路,精度不高;Gong 等利用不同的电阻材料进行温度补偿,电路的温度变化范围大4,但产生的温漂系数高;而Leila Koushaeian 等使用电流镜和运算放大器来减小温漂,其温漂系数为 4.7 ppm/5. 3本文对传统的电流型求和基准源的原理和结构进行分析总结,通过采用 Buck 式电压转移单元6和与温度无关的电流对 VBE 进行高价补偿的方法,设计了一种

7、具有超低温漂系数的带隙基准源电路.同时使用一种有效的启动电路保证电路能正常启动,并且在输出端采用共源共栅结构,提高了电路的电源抑制比.该电路结构对负温度系数项的非线性部分进行了高阶补偿,达到了更低的温漂系数.仿真测试结果表明,输出基准电压为 996.72 mV,当温度在-25125 时,温漂系数为 1.514 ppm/;电源电压在 2.55.5 V 变化时,电压调整率为 0.4 mV/V,适合于高精度电路中的参考电压源. 1 一种超低温漂带隙基准源的设计 带隙基准源是将分别拥有负温度系数 VBE 和正温度系数 VBE 的电压按适当的权重相加,获得零温度系数的基准电压7.为了最大程度地降低带隙基

8、准电路的温漂系数,同时保证足够大的电源抑制比,本文设计了一种新型超低温漂的带隙基准源电路. 1.1 整体电路的设计 本设计基于传统带隙基准源工作原理,采用 Buck 电压转移单元产生的正温度系数对 VBE 的负温度系数进行高阶曲率补偿,整个带隙基准电路如图 1 所示. 图 1 中 Part 1 部分是电流求和型基准源,其将正温度系数和负温度系数两电流之和通过电流镜镜像到输出端,通过电阻分压得到基本与温度无关的基准电压8.运算放大器使电路处于深度负反馈状态,调整 R0的阻值使 Va 和 Vb 分别大于 0.6 V,利用 R1B1,R1B2 及 R1A1,R1A2 进4行分压,得出较小的电压 Vc

9、 和 Vd 作为运放的输入电平.其中 R1B1= R1A1, R1B2= R1A2,故 Va=Vb,Vc=Vd. M1 和 M2 管的宽长比一致,使得两支路流过的电流也相同,Part 1 中产生的带隙基准参考电压为: 式中:第 1 项为常数项,第 2 项为一阶项,第 3 项为高阶项.常数项是在温度为 0 K 时外推而得到的 PN 结二极管电压,VBE0 是发射结电压.T0 是参考温度, 是与工艺有关的常数. 的值与 Ic 的温度特性有关,当 Ic与温度成正比时,=1;当 Ic 与温度无关时,=0. 由式(2)可以得出:VBE 与温度并不是线性关系,一般的电路仅对其中的一次项进行了补偿,而与温度

10、有关的高阶项 TlnT 并没有得到补偿,从而导致电路的温度特性较差.所以为了减小输出电压的温度系数,就需要对 VBE 中的非线性项 TlnT 进行补偿. 图中 Part 2 部分产生与温度无关的电流,并将其注入到 Q5,Q1 管,Q5 与 Q1 的发射极面积相等.所以 Q1 的电流与 T 成正比,由式(2)可得VBE1-VBE5 为: 因此,V1 与 V5 的差值即为与非线性项 TlnT 成比例的电压. 图中 Part 3 部分即为 Buck 型电压转换单元,是整个带隙基准电路的核心部分,用来实现 Vref 的高精度曲率补偿.Buck 式转移单元电路主要由两个差分对构成,通过晶体管差分对管 M

11、3M4 可求出电压,再由电流镜 M5M6 管传送给差分对管 M1 和 M2.晶体管 M1M4 管均工作于饱和区,在忽略体效应与沟道长度调制效应时,可得到: 带隙基准电路通过调整电阻 R0,R1A1,R1A2 的大小,可对 VBE1 进行一阶线性补偿;而 VBE1 的高阶曲率补偿是由参数 A 和 G 实现的,只要5调整好参数 A 和 G 就可以消除高阶温度系数项 TlnT,从而获得理想的基准电压. 1.2 启动电路 在传统的带隙基准源电路中,存在电流为 0 的稳定状态,该状态是非正常工作状态,所以必须加入启动电路使其脱离该状态5.启动电路先为工作电路提供适当的启动电流,使整个电路正常启动后,启动

12、电路再自动关闭.从图 1 可以看出:启动电路由晶体管 M7M10 构成,且M7M9 是二极管连接方式.当电源接通后,M8 管工作在饱和区,M10 导通使节点 A 的电位上升,电路开始正常工作.当节点 A 的电位上升到使 M10管截止时,启动电路关闭,从而使得电路进入正常的工作状态. 1.3 运算放大器设计 运算放大器的性能对带隙基准源的性能参数有着十分重要的影响.为了保证运算放大器两端输入电压相等,并且尽可能地提高带隙基准电路的电源抑制比,放大器的增益应保证足够大10.运算放大器采用放大器级联结构,如图 2 所示,在提高增益的同时使电路能够产生较大的输出摆幅. 运算放大器的增益高低决定了电源抑

13、制比的大小.在 0.5 m CMOS工艺下使用 Cadence 工具对运算放大器电路进行仿真,得到其频率特性曲线如图 3 所示.由图可见:放大器的增益达到 79.46 dB,相位裕度为74.05,完全满足电路要求.放大器的输入对管采用 PMOS 保证运放工作在饱和区,并且在放大器两级输入之间加入补偿电阻和电容,以提高放大器的相位裕度和稳定性. 61.4 版图设计 带隙基准源是高精度的模拟电路,其版图设计对精度和匹配性要求很高,因此在设计中,电流镜,BJT,运算放大器以及电阻等都要做到匹配对称,布局布线也要尽可能合理.在双极型晶体管和电阻的周围添加虚拟器件,并将三极管并联组合在一起以达到版图匹配

14、.在放大器的版图设计中,采取中心对称结构可以降低工艺偏差.故最终设计的整体版图如图4 所示,面积为 300 m300 m. 2 仿真与测试的结果分析 对基准电路而言,温漂系数是其最重要的性能参数之一,温漂系数的大小直接决定电路性能的好坏.本设计基于 0.5 m 的 CMOS 工艺,采用 Cadence 中的 Spectre 软件进行模拟仿真,最后对其进行测试.当电源电压为 5 V 时,在-25125 温度 范围内对电路进行仿真与测试,结果如图 5 所示.由图可见:仿真曲线中电路的输出基准电压为 996.72 mV,在扫描范围内仅有 0.1 mV 的变化;而实际测试得到的输出基准电压为 996.

15、70.06 mV,与仿真结果相似.经补偿后的输出基准电压的温漂系数只有 1.514 ppm/,温度特性得到了很大的改善. 带隙基准电路的电源抑制比仿真与测试曲线如图 7 所示,其直流PSRR 为 59.35 dB.通过温度特性及电源特性的仿真与测试结果比较得出,虽然由于工艺的偏差导致测试与仿真结果存在些许差异,但电路设计完全满足电源控制芯片所要求的性能指标. 3 结 论 7本文设计并实现了一种温漂系数仅为 1.514 ppm/的带隙基准电压源.所设计的电路以 Buck 型转移单元电路作为基准电路的核心,将其产生的正温度系数对 VBE 的负温度系数进行高阶温度补偿,极大地改善了电路的温漂特性;同

16、时由于使用了 Cascode 结构,保证了高的电源抑制比.在 0.5 m CMOS 工艺条件下,运用 Spectre 工具仿真验证了电路的电源以及温度特性.测试结果显示:当温度在-25125 之间变化时,温漂系数仅为 1.514 ppm/.电源电压在 2.55.5 V 内变化时,电路的电压调整率仅为 0.4 mV/V,PSRR 为 59.35 dB,测试结果证明了所设计电路性能优良,可广泛应用于要求超低温漂系数的电路系统中. 参考文献 1 苑婷,巩文超,何乐年. 高精度、低温度系数带隙基准电压源的设计与实现J.电子与信息学报, 2009, 31(5):1260-1264. YUAN Ting,

17、 GONG Wen-chao, HE Le-nian. Design and realization of a high precision low temperature coefficient bandgap voltage reference J. Journal of Electronics & Information Technology, 2009, 31(5): 1260-1264.(In Chinese) 2 CAO Y, WOUTER D C, MICHIEL S, et al. A 4.5 MGy TID-tolerant CMOS bandgap reference ci

18、rcuit using a dynamic base leakage compensation technique J. IEEE Transactions on Nuclear Science, 2013, 60(4):2819-2824. 3 MALCOVATI P, MALOBERTI F, FIOCCHI C, et al. 8Curvature-compensated BiCMOS bandgap with 1-V supply voltageJ.IEEE Journal of Solid-State Circuits,2001,36(7):1076- 1081. 4 GONG Xi

19、ao-feng, LIU Min-jie, ZHOU Bin, et al. A novel wide temperature range bandgap reference C/Proceedings of 2012 IEEE 55th International Midwest Symposium on Circuits and Systems. New York: IEEE, 2012:506-509. 5 KOUSHAEIAN L, SKAIDAS S. A 65 nm CMOS low-power, low-voltage bandgap reference with using s

20、elf-biased composite cascode opamp C/ Proceedings of 2010 IEEE International Symposium on ISLPED. New York: IEEE, 2010:95-98. 6 BUCK A, MC DONALD C, LEWIS S, et al. A CMOS bandgap reference without resistors J. Journal of Solid-State Circuits, 2002, 37(1):81-83. 7 RAZAVI B. Design of analog CMOS int

21、egrated circuitsM. Boston: McGraw-Hill, 2011: 381-390. 8 LEUNG K N, MOK P K T. A Sub-1-V 15-ppm/ CMOS bandgap voltage reference without requiring low threshold voltage device J. IEEE Journal of Solid-State Circuits, 2002, 37 (4): 526-530. 9 TSIVIDIS Y. Accurate analyzes of temperature effects in IC-

22、VBE characteristics with application to bandgap reference 9sourcesJ. IEEE Journal Solid-State Circuits, 2001, 15 (6):1076-1084. 10LI W G, YAO R H, GUO L F, et al. A low power CMOS bandgap voltage reference with enhanced power supply rejection C/Proceedings of IEEE 8th International Conference on ASIC. New York: IEEE, 2009:300-304.

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