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JESD22-A108-B是JESD22-A108-A的修订版。标准内适用的文件： EIA/JESD 47 Stress-Test Driven Qualification of Integrated Circuits EIA/JEP 122 Failure Mechanism and Models for Silicon Semiconductor Devices(硅半导体器件的失效机理和模型) 试验室温度应保持在特定温度的+/- 5内 最大电源电压应遵守规格书内的规范；绝对最大额定电压和绝对最大额定结温，一般由制造商根据特定的设备或技术给定。1. 应力持续时间 由内部质量要求、EIA/JESD 47 或适当的采购文件制定。2. 应力条件（持续提供）（1）环境温度 除特殊要求，高温应根据最小结温在125以下调整；除特殊要求，低温最大值为-10。（2）工作电压 一般工作电压应为器件规定的最大工作电压。可以使用更高的工作电压，以便从电压和温度上加速寿命试验，但一定不能超过绝对最大额定电压。3.
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