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精选优质文档-倾情为你奉上第3章 局部放电对绝缘的损坏和评定3.1 造成绝缘老化的机理实践证明局部放电是造成高压电气设备最终发生绝缘击穿的主要原因。在电场长期作用之下，因局部放电而造成的绝缘性能劣化，称为电老化。电老化机理是很复杂的，它包括局部放电所引起的一系列物理效应和化学变化。 局部放电对绝缘产生的破化作用可归纳为以下几种基本形式。一、带电质点的轰击 由电极注人的电子和放电过程电离的电子、正负离子，在电场作用下具有的能量可达l0eV以上，而一般高聚物的键能，只是几个电子伏，如C-H键能为3.5eV,C=C键能为6.2eV。因此，当这些带电质点撞击到气隙壁上时，就可能打断绝缘体的比学键，而产生裂解，破坏绝缘体的分子结构。 在这些带电粒子的轰击下，液体介质，如甲烷族饱和烃类和烃类矿物油，则析出气体，产生固态x腊。 （3.1）因此，在带电粒子作用下，介质表面不断腐蚀，形成凹坑并不断加深，最后导致击穿。二、热效应 在放电点上，介质发热可达很高的温度。解剖经长期放电而尚未击穿的
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