第九章 可测性设计 概述 为了提高电子系统整机运行的可靠性，降低设计成 本，测试是必不可少的。一套电子系统的高可靠性是 基于构成该系统的各个基本单元的高可靠性，然而随 着系统使用的ASIC 电路规模的增大、复杂程度的提 高，芯片的引脚相对门数减少，使得电路的可控性和 可观测性系数降低，电路测试变得十分复杂和困难， 测试生成的费用也呈指数增长，单凭改进和研究测试 生成方法已无法满足对测试的要求。解决IC 测试问题 的根本方法是在作系统设计时就充分考虑到测试的要 求，即在设计阶段就开始考虑如何对电路进行测试， 并将一些实用的可测性技术引入到芯片设计中，以降 低测试生成的复杂性，也就是进行可测性设计。DFT的基本概念 测试是通过控制和观察电路中的信号，以确定电路是否正常工作 的过程，因此，电路的可测试性涉及可控制性和可观察性两个最基 本的概念。可测性设计（Design For Testability）技术就是试图增加 电路中信号的可控制性和可观察性，以便及时、经济地产生一个成 功的测试程序。 在可测试设计技术发展的早期 ，大多采用特定（Ad Hoc）方法 。Ad Hoc 技术可用于特殊的电
