第六章 高分辨和高空间分析电子显微术 6.1 高分辨电子显微术 6.1.1 傅里叶变换与卷积理论 6.1.2 高分辨像形成过程描述的两个重要函数 6.1.3 弱相位体高分辨像的直接解释 6.1.4 高分辨像的多层法计算机模拟 6.1.5 高分辨像显示位错特征的方法 6.1.6 用高分辨像确定未知晶体结构的方法 6.2 会聚束电子衍射 6.2.1 各种衍射方式和特点的比较 6.2.2 会聚束电子衍射花样形成和特征 6.2.3 HOLZ 线的指标化 6.2.4 会聚束电子衍射的应用举例第六章 高分辨和高空间分析电子显微术 6.3 薄膜样品的X 射线能谱分析 6.3.1 X 射线固体探测器的原理 6.3.2 薄样品成分定量分析原理及特点 6.4 电子能量损失谱（EELS ） 6.4.1 电子能量损失谱仪 6.4.2 电子能量损失谱 6.4.3 电子过滤成像和衍射 6.5 分析电子显微学进展 6.5.1 负球差系数成像技术 6.5.2 定量扫描透射电子显微术 6.5.3 电子全息术第六章 高分辨和高空间分析电子显微术 本章要点 1. 衍衬成像的最高分辨率为1.5nm, 而基于相位衬度的高分辨像
