第十二章 扫描电化学显微镜扫描电化学显微镜(SECM)是80年代末由AJBard的小组提出和发展起来的一种扫描探针显檄镜技术。它是基于70年代末超徽电极(UME)及80年代初扫描隧道显微镜(STM)的发展而产生出来的一种分辨率介于普通光学显微镜与STM之间的电化学现场检测新技术。与STM和AFM技术不同，SECM基于电化学原理工作，可测量微区内物质氧化或还原所给出的电化学电流。该技术驱动非常小的电极（探针）在靠近样品处进行扫描，样品可以是导体、绝缘体或半导体，从而获得对应的微区电化学和相关信息，目前可达到的最高分辨率约为几十纳米。一、SECM装置1、电化学部分（电解池、探头、基底、各种电极和双恒电位仪）2、压电驱动器（用来精确地控制操作探针和基底位置）3、计算机（用来控制操作、获取和分析数据） SECM Block Diagram双恒电位仪控制探针与基底电极的电位或电流，定位装置控制探针对基底进行X、Y、Z方向扫描。电解池固定于操作台上。探针电极的设计和表面状态可显著影响SECM的分辨率和实验的重现性，用前需处理以获得干净表面。1、探针制备SECM探针为被绝缘层包围的超微圆盘电极（UM
