实验一-TTL和CMOS集成门电路参数测试(共5页).doc

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精选优质文档- 倾情为你奉上专心-专注-专业第 2章 数字电路与逻辑设计基本实验2.1 TTL 和CMOS 集成门电路参数测试2.1.1 实验目的1.了解 TTL 和 CMOS 逻辑门电路的主要参数及参数意义。2.熟悉 TTL 和 CMOS 逻辑门电路的主要参数的测量方法。3.掌握 TTL 和 CMOS 逻辑门电路的逻辑功能及使用规则。4.掌握数字电路与逻辑设计实验的基本操作规范。2.1.2 实验仪器及器件序号 仪器或器件名称 型号或规格 数量1双踪示波器、数字示波器CS-4125、DS1022 12 数字逻辑实验箱 SBL 型 13 指针式万用表 500HA 型 14 2输入四与非门(TTL) 74LS00 152输入四与非门(CMOS)CD4011 16 PC 机和仿真软件 Multisim 仿真软件 12.1.3 实验原理逻辑门电路早期是由分立元件构成,体积大,性能差。随着半导体工艺的不断发展,电路设计也随之改进,使所有元器件连同布线都集成在一小块硅芯片上,形成集成逻辑门。集成逻辑门是最基本的数字集成元件,目前使用较普遍的双极型数字集成电路是 TTL 逻辑门电路,它的品种已超过千

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