实验一-集成逻辑门电路(TTL和CMOS)的参数测试(共2页).doc

精选优质文档-倾情为你奉上实验一 集成逻辑门电路（TTL和CMOS）的参数测试一、实验目的1、掌握TTL和CMOS与非门主要参数的意义及测试方法。2、熟悉数字逻辑实验箱的基本功能和使用方法。二、实验仪器及设备1、数字逻辑实验台2、万用表 2只3、元器件：74LS20（T063）、 CC4012 各一块，2CK11 4只4、电阻及导线 若干三、实验内容（简单实验步骤、实验数据及波形）图1-1 图1-21、TTL与非门74LS20静态参数测试导通电源电流ICCL和截止电源电流ICCH 。测试电路如图1-1。74LS20为双与非门，两个门的输入端作相同处理。测得ICCL=12mA，ICCH=1.6mA低电平输入电流IiL 和高电平输入电流IiH。每一门和每一输入端都测试一次。测试电路如图2-2。参数1A1B1C1D2A2B2C2DIiL(mA)1.11.21.11.01.01.11.11.0IiH(uA