* LED的寿命试验方法 中电科技集团第十三研究所 张万生 赵敏 国家半导体器件质量监督检验中心 徐立生*目录1.前言2.适用范围3.定义4.样品及试验应力5.失效判据6.参数测试失效时间和失效数的确定7.数据处理方法8.试验案例9.加速模型检验10.讨论11.结语前 言 平均寿命是电子元器件最常用的可靠性参数，发光二极管的平均寿命一般以光通量（光功率)的衰减值作为单一失效判据来获取试验数据，这时采用本标准给出的一种可缩短试验时间获取试验数据的方法和比较简易的数据处理程序（简称退化系数外推解析法）。当白光LED需要考虑色温漂移时，以色温漂移为单一判据的白光LED或同时考虑色温漂移和光通量衰减具有2个失效判据的白光LED，则采用常规的定数截尾法获取试验数据，并采用已有的国家标准：寿命试验和加速寿命的简单线性无偏估计法（GB 2689.381）、寿命试验和加速寿命的最好线性无偏估计法（GB 2689.481）来进行数据处理，然而这种情况则需要较长的试验时间，而且数据处理的方法也比较复杂。 因此我们在制定“LED寿命试验方法”的标准分为2个阶段：（1）以光通量（光功率)的衰减值作为单一失效判
