半导体ESD模型和测试标准ppt课件.ppt

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http:/ESD 模型及有关测试1 、ESD 模型分类2 、HBM 和MM 测试方法标准3 、 CDM 模型和测试方法标准4 、 EIC 模型和测试方法标准5 、 TLP 及其测试方法6 、拴锁测试7 、 I-V 测试8 、标准介绍1 、ESD 模型分类因ESD 产生的原因及其对集成电路放电的方式不同,经过统计,ESD 放电模型分下列四类:(1) 人体放电模式 (Human-Body Model, HBM)(2) 机器放电模式 (Machine Model, MM)(3) 组件充电模式 (Charged-Device Model, CDM)(4) 电场感应模式 (Field-Induced Model, FIM)另外还有两个测试模型:(5) 对于系统级产品测试的IEC 电子枪空气放电模式(6) 对于研究设计用的TLP 模型人体放电模式 (Human-Body Model, HBM) 人体放电模式(HBM) 的ESD 是指因人体在地上走动磨擦或其它因素在人体上已累积了静电,当此人去碰触到IC 时,人体上的静电便会经由IC 的脚(pin)而进入IC 内,再经由IC 放电到地去,如图2.1

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