X射线荧光光谱分析 仪器分析林梦婕 王巧煌2014.04.115.X射线荧光光谱分析的应用4.X射线荧光光谱仪3.X射线荧光光谱原理2.X射线的特征1.概述概述nX射线光谱分析发展大事记 1895年，伦琴发现X射线。 1908年，巴克拉（C.G.Barkla）和沙特拉（Sadler）发现物质受X射线辐照后会发射出和物质中组成元素相关的特征谱线。 1912年，劳厄（M.VonLoue）发现了晶体对X射线的衍射现象，证实了X射线是一种电磁波，具有波动性，并可用晶体作为X射线衍射光栅。 1913年，布拉格（W.L.Bragg，W.H.Bragg）父子建立布拉格定律。概述nX射线光谱分析发展大事记 1913年，莫塞莱（Moseley）研究了各种元素的特 征光谱，发现了莫塞莱定律，奠定了X射线光谱分 析的基础。 1928年，盖革（H.Geiger）等首次提出用充气记数 管代替照相干板法来进行X射线的测量。 1948年，弗里德曼（H.Friedman）和伯克斯制出 第一台商品X射线荧光光谱仪。 1966年，勃劳曼（Browman）等将发射性同位素源 和Si（Li）探测器结合使用。概述nX射线光谱分
