第三节 SEM的断口分析在试样或构件断口分析方面，扫描电子显微镜的优点已为人们所公认。制样简单：它不需要象透射电子显微镜那样制备复型，既省事又不致在制备过程中引入假象。连续放大（5-10万）：可以对断口进行低倍(例如5倍左右)大视域观察，某些感兴趣的区域 (例如裂纹源)进行高倍观察分析，皿示断口形貌的细节特征，揭示断裂机理，如果仪器具有X射线能谐或波谱分析附件，还可以一步对组成相或某些环境介质在裂纹产生和发展过程中的作用进行分析研究，那将更有助于揭示产生裂纹的原因。景深大；立体感强；层次丰富；下面主要介绍几种典型断口形貌及其扫描电子显微镜图像特点，以利于分析这些断口的断裂机理。 几种典型断口形貌及其扫描电子显微镜图像特点一、按实验方式划分（应力方式） 拉伸断口 冲击试样断口 疲劳断口二、按韧性、脆性分类 韧性断口 脆性断口一、按实验方式划分（应力方式） 拉伸断口 冲击试样断口 疲劳断口1、拉伸断口1.1宏观观察（5 ）：三个区域 纤维区：裂纹源形成区，有一定灰度放射区：裂纹扩展区；裂纹扩展方向：放射条纹破断区（剪切唇）：最后破断1.2微观观察（400以上 ） 纤维区：裂纹源形成区 大量
