电气或电子设备电磁兼容测试方法及应对策略(共13页).docx

上传人:晟*** 文档编号:10484055 上传时间:2022-01-16 格式:DOCX 页数:14 大小:56.19KB
下载 相关 举报
电气或电子设备电磁兼容测试方法及应对策略(共13页).docx_第1页
第1页 / 共14页
电气或电子设备电磁兼容测试方法及应对策略(共13页).docx_第2页
第2页 / 共14页
电气或电子设备电磁兼容测试方法及应对策略(共13页).docx_第3页
第3页 / 共14页
电气或电子设备电磁兼容测试方法及应对策略(共13页).docx_第4页
第4页 / 共14页
电气或电子设备电磁兼容测试方法及应对策略(共13页).docx_第5页
第5页 / 共14页
点击查看更多>>
资源描述

精选优质文档-倾情为你奉上本文简述了电气和电子设备电磁兼容性能测试的几方面内容及应对策略。电气和电子设备电磁兼容测试主要包括五大方面内容:静电放电抗扰度测试;电快速瞬变脉冲群抗扰度测试;浪涌(冲击)抗扰度测试;电压暂降和短时中断抗扰度测试;EMC射频传导抗扰度测试。这五项测试结果基本能反映被测试电气和电子设备的电测兼容性能,即自身抗电磁干扰能力。一、 静电放电抗扰度测试1、静电的危害从本质上讲,静电放电是指带电体周围的场强超过周围绝缘介质的击穿场强时,因介质产生电离而使带电体上的电荷部分或全部消失的现象。相对被研究的物体来说,静电放电(ESD)可以分为直接放电和间接放电。直接放电产生的直接损伤是由于静电放电电流产生的焦尔热形成热效应或静电荷产生的电场通过电容耦合感应电压而导致的电介质击穿。间接损伤则是由间接放电时辐射电磁场形成的瞬态电磁干扰或损伤。目前,静电放电产生的电磁干扰源对电子产品来说是一种重要的危害源。静电带电体周围形成的强电场可以使MOS场效应器件栅氧化层击穿或金属化线间介质击穿,造成电路失效;ESD辐射场多次辐照可在半导体器件中

展开阅读全文
相关资源
相关搜索

当前位置:首页 > 实用文档资料库 > 公文范文

Copyright © 2018-2021 Wenke99.com All rights reserved

工信部备案号浙ICP备20026746号-2  

公安局备案号:浙公网安备33038302330469号

本站为C2C交文档易平台,即用户上传的文档直接卖给下载用户,本站只是网络服务中间平台,所有原创文档下载所得归上传人所有,若您发现上传作品侵犯了您的权利,请立刻联系网站客服并提供证据,平台将在3个工作日内予以改正。