XPS原始数据处理(共9页).docx

上传人:晟*** 文档编号:10525625 上传时间:2022-01-17 格式:DOCX 页数:9 大小:1.33MB
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资源描述

精选优质文档-倾情为你奉上XPS原始数据处理(含分峰拟合)1. XPS高分辨谱可以拿到什么数据?一般而言,大家在做高分辨谱的时候,是期望看到表面某些元素的电子结构信息,判断该元素的化学态以及所处的化学环境等等,进而说明样品的表面结构或其变化。故此,XPS的高分辨一定是有针对性的,所要测的元素也是大家很明了的。在上一期我们说过,对于绝缘体或者半导体而言,具有荷电效应,因此除了大家想要测的元素之外,一般测试的时候还需要测一个C的高分辨谱,用于荷电校正。国内像XPS这样的大型仪器一般都有专人进行测试,因此我们所得到的原始数据一般为xls文件。下图所示为Pb3O4的XPS原始数据,除了Pb、O之外,还有C的高分辨谱以及各元素的半定量分析结果。2. 荷电校正 拿到XPS高分辨谱,第一步是要进行荷电校正,得到准确的结合能数据。那么如何进行校正呢?上一期分享中我们已经说过,荷电校正一般将外来污染碳(284.8 eV)作为基准。具体如何操作呢?1).计算荷电校正值。具体操作:将C1s的数据复制到origin中,做成曲线图,并通过数据读取工具来识别C1s

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