第8章 非光物理量的光电检测本章的主要内容8.1 光强型光电检测系统 8.2 脉冲型光电检测系统 8.3 相位型和频率型光电检测系统8.4 利用物理光学原理的光电检测系统 8.5 其它光电检测系统8.1 光强型光电检测系统8.1.1 直接测量法 8.1.2 差动测量法 8.1.3 补偿测量法8.1.4 补偿式轴径检测装置 8.1.5 利用比较法检测透明薄膜的厚度8.1.6 利用 射线测量块规厚度的装置8.1.7 圆形物体偏心度的光电检测8.1.8 利用补偿法测量线材直径8.1.9 对圆柱形零件的外观检查本节主要包括以下几部分内容：8.1.1 直接测量法1. 直接测量法原理 将携带被检测物理量信息的光量，投射到光电探测器上转换为电信号，经放大后由检测机构直接读出待测量。 图8-l 所示为采用微安表直接读出入射到光电探测器GD 上的光通量。 R为校正电阻，用以校正回路的灵敏度。A 表为读出机构。当探测器处于线性工作区中，则有图8-1 直接测量电路 （8-1 ）式中， 为信号光通量；I 为探测器产生的光电流；S为探测器的积分灵敏度；Ci为比例常数；a0为表针指零时的角度； a为输出电流I 所
