精选优质文档-倾情为你奉上相位噪声及其测试技术(图)作者：电子科技大学 陈国龙 日期：2005-4-1 来源：本网 字符大小：【】 【】 【】 Phase Noise and Its measurement techniques 摘 要：本文简要阐述了相位噪声的概念及其表征，并对相位噪声和相位噪声测试方法进行了分析，并在此基础上提出了一种新的相位噪声测试方法基于带通采样的中频频谱分析法。关键词：相位噪声；鉴相法；鉴频法；相噪测试；中频频谱分析法一、引言- 现代电子系统和设备都离不开相位噪声测试的要求，因为本振相位噪声影响着调频、调相系统的最终信噪比，恶化某些调幅检波器的性能；限制频移键控（FSK）和相移键控（PSK）的最小误码率；影响频分多址接收系统的最大噪声功率等。在很多高级电子系统和设备中，核心技术中往往有一个低相位噪声频率源。可见对相位噪声进行表征、测试以及如何减小相位噪声是现代电子系统中一个回避不了的问题。本文较详细的阐述了相位噪声的概念及其表征，并在分析其通用的测试技术的同时提出了一种新的测试方法基于带通采样的中频频谱
