吴友宇主编模拟电子技术基础课后习题答案.doc

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1、第三部分 习题与解答 习题 1 客观检测题 一、填空题 1、在杂质半导体中,多数载流子的浓度主要取决于掺入的 杂质浓度 ,而少数载流子的浓度则与 温度 有很大关系。 2、当 PN 结外加正向电压时,扩散电流 大于 漂移电流,耗尽层 变窄 。当外加反向电压时,扩散电流 小于 漂移电流,耗尽层 变宽 。 3、在 N 型半导体中, 电子 为多数载流子, 空穴 为少数载流子。 二判断题 1、由于 P 型半导体中含有大量空穴载流子, N 型半导体中含有大量电子载流子,所以 P 型半导体带正电, N 型半导体带负电。( ) 2、在 N 型半导体中,掺入高浓度三价元素杂质,可以改为 P 型半导体。( ) 3

2、、扩散电流是由半导体的杂质浓度引起的,即杂质浓度大,扩散电流大;杂质浓度小,扩散电流小。( ) 4、本征激发过程中,当激发与复合处于动态平衡时,两种作用相互抵消,激发与复合停止。( ) 5、 PN 结在无光照无外加电压时,结电流为零。( ) 6、温度升高时, PN 结的反向饱和电流将减小。( ) 7、 PN 结加正向电压时,空间电荷区将变宽。( ) 三简答题 1、 PN 结的伏安特性有何特点? 答:根据统计物理理论分析 , PN 结的伏安特性可用式 )1e(II TVVsD 表示。 式中, ID 为流过 PN 结的电流; Is 为 PN 结的反向饱和电流,是一个与环境温度和材料等有关的参数,单

3、位与 I 的单位一致; V 为外加电压; VT=kT/q,为温度的电压当量(其单位与 V 的 单 位 一 致 ), 其 中 玻 尔 兹 曼 常 数 k . J / K 231 3 8 1 0 ,电子电量)(C106 0 2 1 7 7 3 1.1q 19 库伦 ,则 )V(2.11594TVT , 在 常 温 ( T=300K ) 下 ,VT=25.875mV=26mV。当外加正 向电压,即 V 为正值,且 V 比 VT大几倍时, 1e TVV ,于是 TVVs eII ,这时正向电流将随着正向电压的增加按指数规律增大, PN 结为正向导通状态 .外加反向电压,即 V 为负值,且 |V|比 V

4、T大几倍时, 1e TVV ,于是 sII ,这时 PN 结只流过很小的反向饱和电流,且数值上基本不随外加电压而变, PN 结呈反向截止状态。 PN结的伏安特性也可用特性曲线表示,如图 1.1.1 所示 .从式 (1.1.1)伏安特性方程的分析和图1.1.1 特性曲线(实线部分)可见: PN 结真有单向导电性和非线性的伏安特性。 2、什么是 PN 结的反向击穿? PN 结的反向击穿有哪几种类型?各有何特点? 答: “PN”结的反向击穿特性:当加在 “PN”结上的反向偏压超过其设计的击穿电压后,PN 结发生击穿。 PN 结的击穿主要有两类,齐纳击穿和雪崩击穿。齐纳击穿主要发生在两侧杂质浓度都较高

5、的 PN 结,一般反向击穿电压小于 4Eg/q( EgPN 结量子阱禁带能量,用电子伏特衡量,Eg/q 指 PN 结量子阱外加电压值,单位为伏 特)的 PN 的击穿模式就是齐纳击穿,击穿机理就是强电场把共价键中的电子拉出来参与导电,使的少子浓度增加,反向电流上升。 雪崩击穿主要发生在 “PN”结一侧或两侧的杂质浓度较低 “PN”结,一般反向击穿电压高于 6 Eg/q 的 “PN”结的击穿模式为雪崩击穿。击穿机理就是强电场使载流子的运动速度加快,动能增大,撞击中型原子时把外层电子撞击出来,继而产生连锁反应,导致少数载流子浓度升高,反向电流剧增。 3、 PN 结电容是怎样形成的?和普通电容相比有什

6、么区别? 图 1.1.1 PN 伏安特性 PN 结电容由势垒电容 Cb 和扩散电容 Cd 组成。 势垒电容 Cb 是由 空间电荷区引起的。空间电荷区内有不能移动的正负离子,各具有一定的电量。当外加反向电压变大时,空间电荷区变宽,存储的电荷量增加;当外加反向电压变小时,空间电荷区变窄,存储的电荷量减小,这样就形成了电容效应。 “垫垒电容 ”大小随外加电压改变而变化,是一种非线性电容,而普通电容为线性电容。在实际应用中,常用微变电容作为参数,变容二极管就是势垒电容随外加电压变化比较显著的二极管。 扩散电容 Cd 是载流子在扩散过程中的积累而引起的。 PN 结加正向电压时, N 区的电子向 P 区扩

7、散,在 P 区形成一定的电子浓度 (Np)分布, PN 结边 缘处浓度大,离结远的地方浓度小,电子浓度按指数规律变化。当正向电压增加时,载流子积累增加了 Q;反之,则减小,如图 1.3.3 所示。同理,在 N 区内空穴浓度随外加电压变化而变化 的关系与 P 区电子浓度的变化相同。因此,外加电压增加 V 时所出现的正负电荷积累变化 Q,可用扩散电容 Cd 来模拟。 Cd 也是一种非线性的分布电容。 综上可知,势垒电容和扩散电容是同时存在的。 PN 结正偏时,扩散电容远大于势垒电容; PN 结反偏时,扩散电容远小于势垒电容。势垒电容和扩散电容的大小都与 PN 结面积成正比。与普通电容相比, PN

8、结电容是非 线性的分布电容,而普通电容为线性电容。 习题 2 客观检测题 一、填空题 1、半导体二极管当正偏时,势垒区 变窄 ,扩散电流 大于 漂移电流。 2、 在常温下,硅二极管的门限电压约 0.6 V,导通后在较大电流下的正向压降约 0.7 V;锗二极管的门限电压约 0.1 V,导通后在较大电流下的正向压降约 0.2 V。 3、在常温下,发光二极管的正向导通电压约 1.22V , 高于 硅二极管的门限电压;图 1.3.3 P 区中电子浓度的分布曲线及电荷的积累 考虑发光二极管的发光亮度和寿命,其工作电流一般控制在 510 mA。 4、利用硅 PN 结在某种掺杂条件下反向击穿特性陡直的特点而

9、制成的二极管,称为 普通 (稳压) 二极管。请写出这种管子四种主要参数,分别是 最大整流电流 、 反向击穿电压 、 反向电流 和 极间电容 。 二、判断题 1、二极管加正向电压时,其正向电流是由( a )。 a. 多数载流子扩散形成 b. 多数载流子漂移形成 c. 少数载流子漂移形成 d. 少数载流子扩散形成 2、 PN 结反向偏置电压的数值增大,但小于击穿电压,( c )。 a. 其反向电流增大 b. 其反向电流减小 c. 其反向电流基本不变 d. 其正向电流增大 3、稳压二极管是利用 PN 结的( d )。 a. 单向导电性 b. 反偏截止特性 c. 电容特性 d. 反向击穿特性 4、二极

10、管的反向饱和电流在 20 时是 5A,温度每升高 10 ,其反向饱和电流增大一倍,当温度为 40 时,反向饱和电流值为( c )。 a. 10A b. 15A c. 20A d. 40A 5、变容二极管在电路中使用时,其 PN 结是( b )。 a. 正向运用 b. 反向运用 三、问答题 1、温度对二极管的正向特性影响小,对其反向特性影响大,这是为什么? 答:正向偏置时,正向电流是多子扩散电流,温度对多子浓度几乎没有影响,因此温度对二极管的正向特性影响小。但是反向偏置时,反向电流是少子漂移电流,温度升高少数载流子数量将明显增加,反向电流急剧随之增加,因此温度对二极管 的反向特性影响大。 2、能

11、否将 1.5V 的干电池以正向接法接到二极管两端?为什么? 答:根据二极管电流的方程式 qV / KTSI I e1 将 V=1.5V 代入方程式可得: /I e elg I lg lg e . 1 2 1 5 0 0 2 6 1 2 1 5 0 0 2 62 0 1 0 1 2 0 1 015002 0 1 2 1 4 3 426故 I . A142 18 10 虽然二极管的内部体电阻、引线电阻及电池内阻都能起限流作用,但过大的电流定会烧坏二极管或是电池发热失效,因此应另外添加限流电阻。 3、有 A、 B 两个二极管。它们的反向饱和电流分别为 5mA 和 A. 20 ,在外加相同的正向电压时

12、的电流分别为 20mA 和 8mA,你认为哪一个管的性能较好? 答: B 好,因为 B 的单向导电性好;当反向偏置时,反向饱和电流很小,二极管相当于断路,其反向偏置电阻无穷大。 4、利用硅二极管较陡峭的正向特性,能否实现稳压?若能,则二极管应如何偏置? 答:能实现稳压,二极管应该正向偏置,硅二极管的正偏导通电压为 0.7V;因此硅二极管的正向特性,可以实现稳压,其稳压值为 0.7V。 5、什么是齐纳击穿?击穿后是否意味着 PN 结损坏? 答:齐纳击穿主要发生在两侧杂质浓度都较高 的 PN 结,其空间电荷区较窄,击穿电压较低(如 5V以下),一般反向击穿电压小于 4Eg/q( EgPN 结量子阱

13、禁带能量,用电子伏特衡量, Eg/q 指 PN 结量子阱外加电压值,单位为伏特)的 PN 的击穿模式就是齐纳击穿,击穿机理就是强电场把共价键中的电子拉出来参与导电,使的少子浓度增加,反向电流上升。 发生齐纳击穿需要的电场强度很大,只有在杂质浓度特别大的 PN 结才能达到。击穿后并不意味着 PN 结损坏,当加在稳压管上的反向电压降低以后,管子仍然可以恢复原来的状态。但是反向电流和反向电压的乘积超过 PN 结容许的耗散功率时,就可 能由电击穿变为热击穿,而造成永久性的破坏。电击穿 PN 结未被损坏,但是热击穿 PN 结将永久损坏。 主观检测题 2.1.1 试用电流方程式计算室温下正向电压为 0.2

14、6V 和反向电压为 1V 时的二极管电流。(设AIS 10 ) 解:由公式 D D Tq V / K T V / VD S SI I e I e 11由于 AIS 10 , VT=0.026V 正向偏置 VD=0.26V 时 DTV / V . / .DSI I e e e A . A 0 2 6 0 0 2 6 1 01 1 0 1 1 0 1 2 2 0 2 6 4 0 2 2 当反向偏置 DVV1 时 DSI I A 10 2.1.2 写出题图 2.1.2 所示各电路的输出电压值,设二极管均为理想二极管。 解: VO12V(二极管正向导通), VO2 0(二极管反向截止), VO3 2V

15、(二极管正向导通), VO42V(二极管反向截止), VO52V(二极管正向导通), VO6 2V(二极管反向截止)。 2.1.3 重复题 2.1.2,设二极管均为恒压降模型,且导通电压 VD 0.7V。 解: UO11.3V( 二极管正向导通), UO2 0(二极管反向截止), UO3 1.3V(二极管正向导通), UO42V(二极管反向截止), UO51.3V(二极管正向导通), UO6 2V(二极管反向截止)。 2.1.4 设题图 2.1.4 中的二极管均为理想的(正向可视为短路,反向可视为开路),试判断其中的二极管是导通还是截止,并求出 A 、 Q 两端电压 AOU 。 解:题图 2.

16、1.4 所示的电路图中 ,图( a)所示电路,二极管 D 导通, VAO= 6V, 图( b)所示电路,二极管 D1 导通, D2 截止, VAO= 0V, 图( c)所示电路,二极管 D1 导通, D2 截止, VAO= 0V。 2.1.5 在用万用表的 kRRR 11 0 0,10 和三个欧姆档测量某二极管的正向电阻时,共测得三个数据; 68085,4 和k ,试判断它们各是哪一档测出的。 解:万用表测量电阻时,对应的测量电路和伏安特性如图 2.1.5 所示,实际上是将流过电表的电流换算为电阻值,用指针的偏转表示在表盘上。当流过 的电流大时,指示的电阻小。测量时,流过电表的电流由万用表的内

17、阻和二极管的等效直流电阻值和联合决定。 通常万用表欧姆档的电池电压为 Ei = 1.5V, R 10 档时,表头指针的满量程为 100A题图 2.1.2 (a) (c) (b) 题图 2.1.4 (测量电阻为 0,流经电阻 Ri 的电流为 10mA),万用表的内阻为 iR 10 150 ; R 100档时,万用表的内阻为 iiRR 1 0 0 1 01 0 1 5 0 0(测量电阻为 0,表头满量程时,流经 Ri的电流 为 1mA); Rk1 档时(测量电阻为 0,表头满量程时,流经 Ri 的电流为 0.1mA),万用表的内阻为 iiR R k1 0 0 1 01 0 0 1 5; 由图可得管

18、子两端的电压 V 和电流 I 之间有如下关系: R 10 档时,内阻 iR 10 150 ; iV . I R . I 1 1 1 0 11 5 1 5 1 5 0 R 100 档时,内阻 iR 100 1500 ; iV . I R . I 2 2 1 0 0 21 5 1 5 1 5 0 0 Rk1 档时,内阻 iRk100 15 ; ikV . I R . I 3 3 1 31 5 1 5 1 5 0 0 0 从伏安特性图上可以看出,用 R 10 档测量时,万用表的直流负载线方程与二极管的特性曲线的交点为 A,万用表的读数为 V1/I1。 用 R 100 档测量时,万用表的直流负载线方程

19、与二极管的特性 曲线的交点为 B,万用表的读数为 V2/I2。 用 Rk1 档测量时,万用表的直流负载线方程与二极管的特性曲线的交点为 C,万用表的读数为 V3/I3。 由图中可以得出 VVVI I I3121 2 3所以, 85 为万用表 10R 档测出的; 680 为万用表 100R 档测出的; k4 为万用表 kR 1 档测出的。 2.1.6 电路如题图 2.1.6 所示,已知 vi 6sint(v),试画出 vi与 vo 的波形,并标出幅值。分别 2 V/VotV60tV/viV60tV/VoV3.50V7.0使用二极管理想模型和恒压降模型( VD 0.7V)。 解:由题意可知: vi

20、 6sint(v) 在 vi 的正半周,二极管导通,电路的输出电压波形如图 2.1.6(a)、 (b)所示。 2.1.7 电路如题图 2.1.7 所示,已知 vi 6sint (V),二极管导通电压 VD 0.7V。试画出 vi 与vO 的波形,并标出幅值。 解:由题意 vi 6sint(V) 波形如图 2.1.7 所示: 当 iv . V37 时,二极管 D1 导通, vo 3.7V, 当 iv . V37 时,二极管 D2 导通, vo 3.7V, 当 i. V v . V 3 7 3 7时,二极管 D1、 D2 截止, vo vi 。 2.2.1 现有两只稳压管,它们的稳定电压分别为 5

21、V 和 8V,正向导通电压为 0.7V。试问: ( 1)若将它们串联相接,则可得到几种稳压值?各为多少? ( 2)若将它们并联相接,则又可得到几种稳压值?各为多少? 解:( 1)两只稳压管串联时可得 1.4V、 5.7V、 8.7V 和 13V 等四种稳压值。 ( 2)两只稳压管并联时可得 0.7V、 5V 和 8V 等三种稳压值。 2.2.2 已知稳压管的稳压值 VZ 6V,稳定电流的最小值 IZmin 5mA。求题图 2.2.2 所示电路中 VO1和 VO2各为多少伏。 题图 2.1.7 题图 2.2.2 图 2.1.7 题图 2.1.6 解: ( 1)当 VI 10V 时,若 VO1 V

22、Z 6V,则稳压管的电流为 IZZ1 Z m inVVI . A m A I m AR 1 1 0 6 0 0 0 8 8 5500, 大于其最小稳定电流,所以稳压管击穿。故 oVV1 6 。 ( 2)当 VI 10V 时,若 VO2 VZ 6V,则稳压管的电流为 IZZ2 Z m inVVI . A m A I m AR 2 1 0 6 0 0 0 2 2 52000, 小于其最小稳定电流,所以稳压管未击穿。故 LO 2 I IL VRV V VRR 2 2000 52 0 0 0 2 0 0 0。 2.2.3 电路如题图 2.2.3( a)( b)所示,稳压管的稳定电压 VZ 3V, R

23、的取值合适, vi 的波形如图( c)所示。试分别画出 vO1和 vO2的波形 。 解: 波形如图 2.2.3 所示。 题图 2.2.3 所示的电路中,对于图( a)所示的电路,当 ivV3 时,稳压管 DZ反向击穿, vo vi 3V,当 ivV3 时,稳压管 DZ未击穿, vo 0V。 对于图 b 所示的电路,当 ivV3 时,稳压管 DZ反向击穿, vo VZ ,当 ivV3 时,稳压管 DZ未击穿, vo vi 。 图 2.2.3 题图 2.2.3 题图 2.2.4 2.2.4 已知题图 2.2.4 所示电路中稳压管的稳定电压 VZ 6V,最小稳定电流 IZmin 5mA,最大稳定电流

24、 IZmax 25mA。 ( 1)分别计算 vi 为 10V、 15V、 35V 三种情况下输出电压 vO 的值; ( 2)若 vi 35V 时负载开路,则会出现什么现象 ?为什么? 解:( 1)当 vi 10V 时,若 vO VZ 6V,则稳压管的电流为 4mA,小于其最小稳定电流,所以稳压管未击穿。故 Lo L ViRv v .RR 3 3 3当 vi 15V 时,稳压管中的电流大于最小 稳定电流 IZmin,所以 vO VZ 6V 同理,当 vi 35V 时, vO VZ 6V。 ( 2) D Z i ZI ( v V ) R 29mA IZM 25mA,稳压管将因功耗过大而损坏。 2.

25、2.5 电路如题图 2.2.5 所示,设所有稳压管均为硅管(正向导通电压为 VD 0.7V),且稳定电压 VZ 8V,已知 vi 15sint (V),试画出 vO1和 vO2的波形。 解:题图 2.2.5 所示的电路图中,对于图( a) ,当 iZv V V8 时,稳压管 DZ 反向击穿, vo 8V ; 当 iDv V . V 07时,稳压管 DZ正向导通, vo 0.7V ; 当 D i Z. V V v V V 0 7 8时,稳压管 DZ1 和 DZ2 未击穿, vo vi 。 对应题图 2.2.5(a)电路的输出电压的波形如图 2.2.5(a)所示。 对于图( b),当 i Z Dv V V . V 87时,稳压管 DZ1 正向导通、 DZ2 反向击穿, vo 8V; 当 i Z Dv V V . V 87时,稳压管 DZ1 反向击穿、 DZ2 正向导通, vo 8V; 当 Z D i Z D. V V V v V V . V 8 7 8 7时,稳压管 DZ1 和 DZ2 未击穿, vo vi 。 对应题图 2.2.5(b)电路的输出电压的波形如图 2.2.5(b)所示。 题图 2.2.5 (b) (a)

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