BIT研究现状及发展张超1,2，马存宝1,2，宋东1，许家栋2(1.西北工业大学航空学院陕西西安710072；2.西北工业大学电子信息学院陕西西安710072)摘要：机内测试(BIT)是一种能显著提高系统测试性和诊断能力的重要技术，已大量应用于当代航空系统和武器装备中。但虚警问题是困扰BIT应用的重大难题，并严重影响着武器装备的战备完好性和全寿命周期费用。因此，为从根本上解决BIT的虚警问题，智能BIT技术就成为测试领域21世纪的重点研究项目之一。首先简要介绍了BIT虚警的两个主要产生原因，然后重点概述了智能BIT的发展状况，并分析了当前研究方法中存在的不足，最后在研究BIT不确定性的基础上提出了基于粗糙集的智能BIT故障诊断新技术，并指出了该技术中需要研究的若干关键问题。关键词：智能机内测试；测试性；虚警；粗糙集；故障诊断中国分类号：TN56文献标识码：AIntelligentBuilt-inTest:AnOverviewZHANGChao1,2,MACunbao1,2,SongDong1,XUJiadong2(1.SchoolofAeronautic
