第三章-TEM样品制备技术ppt课件.ppt

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经营者提供商品或者服务有欺诈行为的,应当按照消费者的要求增加赔偿其受到的损失,增加赔偿的金额为消费者购买商品的价款或接受服务的费用中南大学材料科学与工程学院艾延龄E-mail: 第三章 TEM样品制备技术 由于电子束的穿透能力比较低(散射能力强),由于电子束的穿透能力比较低(散射能力强),因此用于因此用于TEMTEM分析的样品厚度要非常薄,根据样品分析的样品厚度要非常薄,根据样品的原子序数大小不同,一般在的原子序数大小不同,一般在55500nm500nm之间。要制之间。要制备这样薄的样品必须通过一些特殊的方法。备这样薄的样品必须通过一些特殊的方法。电镜样品制备方法 复型技术 化学抛光 电解抛光法 解理和超薄切片 多层膜样品的截面样品制备方法 粉末样品的包埋法FIB (聚焦离子束)方法(Focusing Ion Beam )经营者提供商品或者服务有欺诈行为的,应当按照消费者的要求增加赔偿其受到的损失,增加赔偿的金额为消费者购买商品的价款或接受服务的费用n n电镜样品制备的重要性电镜样品制备的重要性n n 样品制备对于获得一张满意的电子显微象是至关重要的。 样品制备对于获得一张满意的电子显

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