PCB透过HAST进行离子迁移与CAF的加速试验三鼎国际检测认证服务机构自成立之日起，着眼于为线路板行业提供最专业、最安全的认证咨询服务，一直深挖技术潜力，勇攀制高点！我司已经完全掌握了线路板UL认证、CQC认证过程中所有的重点、难点，完全有能力协助您在价格更优，服务更优的基础上，顺利通过认证！现隆重推出线路板委托测试服务，给您多一个优质的服务提供商！我们的委托测试项目之一：离子迁移与CAF的加速试验说明：PCB为确保其长时间使用质量与可靠度，需进行SIR（SurfaceInsulationResistance）表面绝缘电阻的试验，透过其试验方式找出PCB是否会发生MIG（离子迁移）与CAF（玻纤纱阳极性漏电）现象，离子迁移与是在加湿状态下（如：85C/85%R.H.）,施加恒定偏压（如：50V）,离子化金属向相反电极间移动（阴极向阳极生长），相对电极还原成原来的金属并析出树枝状金属的现象，常造成短路，离子迁移非常脆弱，在通电瞬间产生的电流会使离子迁移本身溶断消失，MIG与CAF常用的规范：IPC-TM-650-2.6.14.、IPC-SF-G18、IPC-9691A、I
