U盘坏块、扩容、读写速度检测软件h2testw图文教程！U盘、SSD、各种存储卡等都是采用Flash半导体芯片作为存储介质的，目前大部分的半导体存储设备都是采用MLCFlash芯片，相对来说更容易出现坏块，引起读写错误，从而导致重要数据损坏或设备工作不正常h2testw是德国人写的一个windows下免费的Flash坏块检测软件，可以检测目前所有的半导体存储设备的坏块情况，该软件通过向选择的目录内写入自行产生的单个最大1G的文件然后读出校验的方式确定坏块，准确性不容怀疑；同时，该软件还能测试存储设备的实际读写速度，与ATTODISKBENCH和HDTACH不同，h2testw测试的是存储设备的实际读写速度，本文就详细解释一下h2testw的使用方法。打开h2testw，界面如下：由于程序是德国人写的，默认的界面语言是德语，不熟悉德语的朋友（应该是大多数）请选择英语界面，如上图。然后请点击Selecttarget按钮选择测试数据写入的目录：你可以选择将待测数据写入待测存储设备的任意目录，h2testw会向待测盘写入单个最大1G的测试文件，如果剩余空间不够
