专用集成电路的可测性与测试案例.docx

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资源描述

专用集成电路的可测性研究与测试案例电子信息工程学院摘要:集成电路的测试技术、设计技术与制造技术一起并称为集成电路的三大关键技术。随着集成电路规模的不断增大,复杂度的提高,测试生成的费用成指数增长,测试开销在电路和系统总开销中所占的比例不断上升。测试问题已不再是一个附属的次要问题,而应该看作系统设计中的一个重要组成部分,只有更好地研究和了解与测试相关的设计内容,将设计和测试于一体,才能更好地对电路进行测试和分析。关键词:专用集成电路可测性测试案例TestabilityResearchandTestCasesforASICAbstract:Testingtechnology,designingtechnologyandfabricatingtechnologyarethreecriticaltechnologiesinintegratedcircuit(IC)industry.WiththeincraenadsecoomfplIeCxitys,thsecalecostcausedbytestrisesrapidly,andtheproportionoftestoveral

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