第二章-热氧化CVDppt课件.ppt

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在整堂课的教学中,刘教师总是让学生带着问题来学习,而问题的设置具有一定的梯度,由浅入深,所提出的问题也很明确薄膜形成 大规模集成电路制造工艺1在整堂课的教学中,刘教师总是让学生带着问题来学习,而问题的设置具有一定的梯度,由浅入深,所提出的问题也很明确硅基材料SiO2与Si之间完美的界面特性是成就硅时代的主要原因。 SiO2:栅绝缘层材料/绝缘/介质材料; Si3N4:介质材料,用作钝化/掩蔽等; 多晶硅:可以掺杂,导电; 金属硅化物:导电,作为接触和互连硅工艺中: 2在整堂课的教学中,刘教师总是让学生带着问题来学习,而问题的设置具有一定的梯度,由浅入深,所提出的问题也很明确SiO2与Si之间界面SiO2Si3在整堂课的教学中,刘教师总是让学生带着问题来学习,而问题的设置具有一定的梯度,由浅入深,所提出的问题也很明确SiO2的基本性质 通常热氧化生长的SiO2是非晶的 熔点:1732 C ( 晶体结构) 质量密度:2.21 g/cm3 原子密度:2.21022 分子/cm3 折射率 n=1.46 相对介电常数 3.94在整堂课的教学中,刘教师总是让学生带着问题来学习,而问题的设置具有一定

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