可测性设计技术摘要本文从可测性设计与VLSI测试，VLSI设计之间的关系动身，将与可测性设计相关的VLSI测试方式学、设计方式学的内容有机地融合在一路，文中简要介绍了VLSI可测性设计的理论基础和技术种类，可测性设计的现状，进展趋势，可测试性设计的内涵、意义和分类，而且探讨了可测性设计的实现方式。关键词：可测性设计，自动测试生产，扫描技术，边界扫描技术，嵌入式自测试。1可测性设计技术概述可测性的起源于进展进程20世纪70年代，美军在装备保护进程中发觉，随着系统的复杂度不断提高，经典的测试方式已不能适应要求，乃至显现测试本钱与研制本钱倒挂的局面。20世纪80年代中，美国军方接踵实施了综合诊断研究打算。并公布系统和装备的可测性大纲，大纲将可测性作为与靠得住性及维修等同的设计要求，并规定了可测性分析，设计及验证的要求及实施方式。该标准的公布标志这可测性作为一门独立学科的确立。尽管可测性问题最先是从装备保护的角度提出，但随着集成电路(IC)技术的进展，知足IC测试的需求成为推动可测性技术进展的要紧动力。从进展的趋势上看，半导体芯片技术进展所带来的芯片复杂性的增加
