数字逻辑实验指导书(multisim).doc

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资源描述

实验一 集成电路的逻辑功能测试一、实验目的1、掌握Multisim软件的使用方法。2、掌握集成逻辑门的逻辑功能。3、掌握集成与非门的测试方法。二、实验原理TTL集成电路的输入端和输出端均为三极管结构,所以称作三极管、三极管逻辑电路(Transistor -Transistor Logic )简称TTL电路。54 系列的TTL电路和74 系列的TTL电路具有完全相同的电路结构和电气性能参数。所不同的是54 系列比74 系列的工作温度范围更宽,电源允许的范围也更大。74 系列的工作环境温度规定为0700C,电源电压工作范围为5V5%V,而54 系列工作环境温度规定为-551250C,电源电压工作范围为5V10%V。54H 与74H,54S 与74S 以及54LS 与74LS 系列的区别也仅在于工作环境温度与电源电压工作范围不同,就像54 系列和74 系列的区别那样。在不同系列的TTL 器件中,只要器件型号的后几位数码一样,则它们的逻辑功能、外形尺寸、引脚排列就完全相同。TTL 集成电路由于工作速度高、输出幅度较大、种类多、不易损坏而使用较广,

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