数字电路与逻辑设计实验讲义实验一 TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试一、实验目的 1、掌握TTL集成与非门的逻辑功能和主要参数的测试方法。 2、掌握TTL器件的使用规则。 3、进一步熟悉数字电路实验装置的结构、功能与使用方法。二、实验原理 用万用表鉴别门电路质量的方法：利用门的逻辑功能判断，根据有关资料掌握电路组件管脚排列，尤其是电源的两个脚。按资料规定的电源电压值接好（5V10%）。在对TTL与非门判断时，输入端全悬空，即全“1”，则输出端用万用表测应为0.4V以下，即逻辑“0”。若将其中一输入端接地，输出端应在3.6V左右（逻辑“1”），此门为合格门。按国家标准的数据手册所示电参数进行测试：现以手册中74LS20与非门电参数规范为例，说明参数规范值和测试条件，见表1.1。74LS20逻辑框图、逻辑符号及引脚排列如图1.1。表1.1 74LS20主要电参数规范参数名称及符号规范值单位测试条件74LS20直流参数高电平输出电压VOH3.40V
