VLSI测试与可测性设计课程教学大纲课程代码：课程英文名称：VLSI test and design for test课程总学时：40 讲课：32 实验：8 上机：0适用专业：电子科学与技术大纲编写（修订）时间：2011.9一、大纲使用说明（一）课程的地位及教学目标随着集成电路设计与加工技术的飞速发展，超大规模集成电路的测试已经成为一个越来越困难的问题，由于对生产良品率和产品售后质量的强调，以及VLSI设计复杂度的不断增长，要求早在设计过程中就要考虑测试问题，测试和可测性设计的理论与技术已经成为VLSI领域中的一个重要研究方向，在理论和时间方面都有十分突出的价 值。通过本课程的学习，使学生对测试和可测性设计中的基本概念具有全面而透彻的理解，掌握测试和可测性设计中的基本方法，以及培养学生分析、解决实际的测试问题的能力，使学生很好的将理论和实践结合起来。（二）知识、能力及技能方面的基本要求本课程要求学生掌握VLSI测试与可测性设计的基本理论知识，并具有实际应用能力。掌握从权衡工程预算（芯片面积、目标工作频率、功耗等）、商业驱动、成本要
