数字电路实验指导书.doc

第一章 单元实验实验一 逻辑门电路的研究一、 实验目的：1 分析“门”的逻辑功能。2 分析“门”的控制功能。3 熟悉门电路的逻辑交换及其功能的测试方法。二、 实验使用仪器和器件：1数字逻辑电路学习机一台。2万用表一块。三、 实验内容和步骤：1 TTL集成门逻辑功能的测试：“与非门”逻辑功能的测试：在学习机上插入74LS10芯片，任选一个三输入端“与非门”按表1完成逻辑功能的测试（输入“1”态可悬空或接5V，“0”态接地）。表1输入逻辑状态输出逻辑A B C1 1 10 1 10 0 10 0 0状态电位（V）用“与或非”门实现Z=AB+C的逻辑功能：在学习机上插入74LS54芯片，做Z=AB+C逻辑功能的测试，完成表2的功能测试并记录。表2输入逻辑状态输出逻辑A B