快速确定微电子器件失效激活能及寿命试验新方法的研究李杰 郭春生程尧海 李志国（北京工业大学电子信息与控制工程学院，北京 ）摘要：提出了一种新的微电子器件快速评价方法温度斜坡法，建立了确定失效激活能的新模型和寿命外推新模型，使用此模型可计算出单支器件的失效激活能并外推其寿命。同时，该方法的试验温度范围较宽，可以触发不同温度范围的多种退化模式，实现对不同退化机理的研究。关键词： 温度斜坡 ；激活能；多退化机理PACC：3520G;8170中图分类号：TN32 文献标识码：AA NEW METHOD OF RAPIDLY CONFIRMING ACTIVATION ENERGYAND EXTRAPOLATING LIFE OF ELECTRONIC DEVICELi Jie , Guo Chunsheng，Cheng Yaohai，Li Zhiguo（College of Electronic Information and Control Engineering, Beijng University of Technology, Beij
