绝缘栅型场效应管测量方法.doc

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资源描述

绝缘栅型场效应管(MOSFET)除了放大能力稍弱,在导通电阻、开关速度、噪声及抗干扰能力等方面较双极型三极管均有着明显的优势。由于输入阻抗极高,MOSFET管栅极微量感应电荷产生的电势足以击穿绝缘层而损坏器件。过去许多介绍绝缘栅型场效应管的资料中,一般都需要用捆扎(短接)器件的三只管脚,待MOS管焊接到电路板之后再剪去捆扎线如图1所示,使用非常烦琐。目前市场上销售的MOS管的种类、封装很多,如图2所示。 其中的大多数MOS管,尤其是功率型MOS管,内部集成有完善的保护环节,使用起来与双极型三极管一样方便。不过,保护单元的存在却又使得MOS管内部结构变得更加复杂,测试方法也与传统双极型三极管大相径庭。一、基本类型MOS管测试MOS管内部的保护环节有多种类型,这就决定了测量过程存在着多样性,常见的NMOS管内部结构如图3、图4所示。 图3、图4所示NMOS管的D-S间均并联有一只寄生二极管(InternalDiode)。与图3稍有不同,图4所示NMOS管的G-S之间还设计了一只类似于双向稳压管的元件保护二极管,由于保护二极管的开启

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