实验一 门电路逻辑功能及测试一、实验目的：1. 熟悉常用集成门电路的逻辑功能及测试方法。2. 熟悉各种门电路的管脚排列，进一步熟悉仿真软件和数字试验箱的使用。3学习利用与非门组成其它逻辑门电路并验证其逻辑功能。二、实验仪器及设备 1.数字电路实验箱2.万用表3.集成芯片：74LS00 2输入端四与非门 2片 74LS86 2输入端四异或门 1片三、实验原理1. TTL集成电路的输入端和输出端均为三极管结构，所以称作三极管、三极管逻辑电路（Transistor -Transistor Logic ）简称TTL电路。54 系列的TTL电路和74 系列的TTL电路具有完全相同的电路结构和电气性能参数。所不同的是54 系列比74 系列的工作温度范围更宽，电源允许的范围也更大。74 系列的工作环境温度规定为0700C，电源电压工作范围为5V5%V，而54 系列工作环境温度规定为-551250C，电源电压工作范围为5V10%V。54H 与74H,54S 与74S 以及54LS 与74
