霍尔仪器测磁感应强度.doc

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实验3-22霍尔效应测磁感应强度【实验简介】德国物理学家霍尔(E.H.Hall)1879年研究载流导体在磁场中受力的性质时发现,任何导体通以电流时,若存在垂直于电流方向的磁场,则导体内部产生与电流和磁场方向都垂直的电场,这一现象称为霍尔效应,它是一种磁电效应(磁能转换为电能)。二十世纪五十年代以来,由于半导体工艺的发展,先后制成了多种有显著霍尔效应的材料,这一效应的应用研究也随之发展起来。现在,霍尔效应已在测量技术、自动化技术、计算机和信息技术等领域得到了广泛的应用。在测量技术中,典型的应用是测量磁场,其特点是:响应速度快,既能测稳恒磁场,也可测交流磁场,亦能测量脉宽为ms的脉冲磁场;能在很小的空间体积(零点几立方毫米)和小气隙中测磁场,现在霍尔元件可以做到10mm2的大小;测量范围大,可以从10T的强磁到10-7T的弱磁;可以同时利用多个霍尔元件探头,以便实现自动化测量和数据处理;无接触、寿命长、成本低。测量磁场方法不少,但其中以霍尔效应为机理的测磁方法因结构简单、体积小、测量速度快等优点而有着广泛的应用,本实验就是采用这种方法。通过本实验了解霍尔效应

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