MOS器件物理——转移特性曲线(精)课件.ppt

上传人:晟*** 文档编号:14393665 上传时间:2022-10-14 格式:PPT 页数:29 大小:215KB
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MOS 器件物理( 续)转移特性曲线 在一个固定的VDS下的MOS 管饱和区的漏极电流与栅源电压之间的关系称为MOS 管的转移特性。转移特性的另一种表示方式增强型NMOS转移特性 耗尽型NMOS转移特性转移特性曲线 在实际应用中,生产厂商经常为设计者提供的参数中,经常给出的是在零电流下的开启电压 注意 ,Vth0为无衬偏时的开启电压,而 是在与VGS特性曲线中与VGS轴的交点电压,实际上为零电流的栅电压 从物理意义上而言, 为沟道刚反型时的栅电压,仅与沟道浓度、氧化层电荷等有关;而Vth0与人为定义开启后的IDS有关。 转移特性曲线 从转移特性曲线可以得到导电因子KN(或KP),根据饱和萨氏方程可知: 即有: 所以KN即为转移特性曲线的斜率。MOS 管的直流导通电阻 定义:MOS 管的直流导通电阻是指漏源电压与漏源电流之比。 饱和区: 线性区: 深三极管区:MOS 管的最高工作频率 定义:当栅源间输入交流信号时,由源极增加(减小)流入的电子流,一部分通过沟道对电容充(放)电,一部分经过沟道流向漏极,形成漏源电流的增量,当变化的电流全部用于对沟道电容充放电时,MOS 管就失去了放大能力,

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