纳米材料基础特性测试形貌观察与分析1. 相关概念2. 扫描电镜原理及相关知识3. 透射电镜原理4. 应用实例第一节 相关概念1.什么是纳米材料的形貌? 材料的形貌尤其是纳米材料的形貌是材料分析的重要组成部分,材料的很多物理化学性能是由其形貌特征所决定的。对于纳米材料,其性能不仅与材料颗粒大小还与材料的形貌有重要关系。因此,纳米材料的形貌分析是纳米材料的重要研究内容。形貌分析主要内容是分析材料的几何形貌、材料的颗粒度、颗粒的分布以及形貌微区的成分和物相结构等方面。 2.形貌分析的主要方法 纳米材料常用的形貌分析方法主要有:扫描电子显微镜(SEM)、透射电子显微镜(TEM)、扫描隧道显微镜(STM)、原子力显微镜(AFM)。 扫描电镜和透射电镜形貌分析不仅可以分析纳米粉体材料,还可分析块体材料的形貌。其提供的信息主要有材料的几何形貌、粉体的分散状态、纳米颗粒的大小、分布、特定形貌区域的元素组成和物相结构。 扫描电镜分析可以提供从数纳米到毫米范围内的形貌像,观察视野大,其分辨率一般为6nm,对于场发射扫描电子显微镜,其空间分辨率可以达到0.5nm量级。 透射电镜具有很高的空间分辨能力,特别适