仪器名称服务功能及应用范围X射线衍射仪固体材料、晶体结构研究、非晶材料RDF研究，扫描、薄膜参量分析付里叶红外光谱仪有机、无机、半导体材料、非金属中的O、C、N分析，外延层厚度俄歇电子能谱仪测固体表面元素组成及横向、纵向分布及相对含量，适于金属、半导体材料表面玷污失效、变质等问题分析色质谱联用仪液体进样、四极质谱检测、质量数2-800适用于毛细管气相色谱样品二次离子质谱仪对固体材料中的元素和同位素微区分布、深度分布进行测定ICP-AES可测高纯试剂，金属、合金、非金属、建材、陶瓷、地质、化工、生物、植物、考古样品、电子材料成份分析、定量分析，元素分析、痕量元素 扫描电子显微镜用于电子材料、冶金、生物、半导体元件等领域材料形貌、微区分析、失效分析、图象处理原子吸收分光光度计锡铅焊料、铝箔、FeO、SiO、铸铁铜等金属材料中的杂质分析，生物、医药、环境样品的分析X射线光电子能谱仪表面元素组成、相对含量、元素材料中的化学价态、随深度变化情况，对催化、腐蚀表面改性、薄膜等均可进行分析研究
