集成电路测试集成电路的复杂度要求计算机技术的发展11/27/2022 1测试介绍n 测试：就是检测出生产过程中的缺陷，并挑出废品的过程。n 测试的基本情况：封装前后都需要进行测试。n 测试与验证的区别：目的、方法和条件n 测试的难点：复杂度和约束。n 可测性设计：有利于测试的设计。11/27/2022 2简单的测试例子A=1,B=1 =Z=1A=0,B=1=Z=0A=1,B=0=Z=0A=0,B=0=Z=011/27/2022 3可测性设计举例n 可控性：l 可观性：11/27/2022 4基本概念1 ：故障和故障模型故障：集成电路不能正常工作。故障模型：物理缺陷的逻辑等效。11/27/2022 5故障举例物理缺陷逻辑等效11/27/2022 6逻辑门故障模型n 固定值逻辑：所有缺陷都表现为逻辑门层次上线网的逻辑值被固定为0 或者1 。表示：s-a-1, s-a-0 。n 桥接n 逻辑门故障模型的局限性11/27/2022 7故障的等效和从属故障等效故障从属故障类型与测试码 测试码 故障 A B C Z1 1 1 0A/0, B/0, C/0, Z/1 0 1 1 1A/1,Z/0 1
