SICCEAG-China成立在2005年8月，从2008年7月，EAG-China在上海增加了SIMS服务，目前拥有3台SIMS，1台Auger。将于2012年安装第4台SIMS以及XPS和SEM。2013年初将安装第一台GD-MS设备。EAG提供材料物理和化学性质的分析,得到材料的化学成分、微量元素（掺杂或杂质）的浓度和分布以及材料的结构。分析技术包括：SIMS、GDMS、ICP-MS、Auger、XPS、TEM、SEM、FTIR、TOF、Raman、XRD、XRR、XRF。EAG在多种电池材料的分析方面都有丰富的经验。针对太阳能级硅材料的分析，SIMS和GDMS是最有效的两种手段。SICC 分析方法名称简 称 主要用途透射电子显微镜TEM形貌及结构扫描电子显微镜SEM形貌扫描透射电子显微镜STEM形貌场电子显微镜FEM结构场离子显微镜FIM结构场离子显微镜-原子探针AP-FIM结构扫描隧道显微镜STM形貌扫描力显微镜SFM形貌声显微镜AM形貌低能电子衍射 LEED结构反射式高能电子衍射 RHEED结构扩展x射线吸收谱精细结构SEXAFS结构常用表面（层）形貌及结构分析仪器及用途常
