2006-5-7VLSI测试和可测试性设计EEHQU6162369（O）2006-5-7内容q第一部分第一部分:测试理论基础测试理论基础数字系统测试发展概况数字系统测试发展概况VLSI测试过程和设备测试过程和设备测试经济学和产品质量测试经济学和产品质量故障模型故障模型q第二部分第二部分:测试矢量生成测试矢量生成-ATPG逻辑和故障模拟逻辑和故障模拟可测试性测量可测试性测量组合电路组合电路ATPG时序电路时序电路ATPG存储器测试存储器测试IDDQ测试测试q第三部分第三部分:可测试性设计（可测试性设计（DFT）扫描测试扫描测试BIST边界扫描测试边界扫描测试模拟测试总线模拟测试总线2006-5-7第一部分测试理论基础1.1 数字系统测试发展概况数字系统测试发展概况数字系统的测试是一个不缺少的重要环节。数字系统的测试是一个不缺少的重要环节。系统测试的核心问题是确定施加什么样的激励，可以使故障激活系统测试的核心问题是确定施加什么样的激励，可以使故障激活（既使故障能够反映出来），同时能够在可及端测量出来。因此（既使故障能够反映出来），同时能够在可及端测量出来。因此还要确定在什么地方施加机理，在
