IC工艺和版图设计第八章 latch-up和GuardRing设计 本章主要内容CH8CH8GuardRingLatch-up的防护的防护Latch-up原理分析原理分析latch-up原理分析 CMOS电路中在电源电路中在电源VDD和地线和地线GND之之间由于寄生的间由于寄生的PNP和和NPN相互影响可能会产生相互影响可能会产生的一低阻抗通路，使的一低阻抗通路，使VDD和和GND之间产生大之间产生大电流，这就称为电流，这就称为闩锁效应（闩锁效应（latch up）。随着随着IC制造工艺的发展，集成度越来越高，制造工艺的发展，集成度越来越高，产生产生latch up的可能性会越来越高。的可能性会越来越高。latch-up原理分析latch-up原理分析latch-up原理分析latch-up原理分析当无外界干扰未引起触发时，两个当无外界干扰未引起触发时，两个BJT处于截止状态，处于截止状态，集电极电流是集电极电流是C-B反向漏电流构成，反向漏电流构成，电流增益非常小，电流增益非常小，此时此时latch up不会产生。不会产生。latch-up原理分析当一个当一个BJT集电极电流受外部干
