膜系设计结构及调试课件.pptx

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工艺部专题讲座工艺部专题讲座膜系设计、结构及调试膜系设计、结构及调试1 1主要内容:1.膜系设计原理2.膜系结构3.调试过程2 2光学设计光学设计1.1.宏观薄膜干涉理论宏观薄膜干涉理论 干涉的条件:同一光源发出、频率相同、振动方向相同、路径不同、相位差恒定干涉的结果:相长和相消利用干涉现象,通过调节膜厚来改变颜色或反射率的分析 (1)叠加原理 -90+90之间发生相长干涉;90270之间发生相消干涉 (2)界面反射光线的相位变化 当光线由光疏介质进入光密介质时,界面处的反射光线会有180的相位变化 (3)进入光密介质被压缩 用于计算膜层1/4波长的光学厚度。eg:550nm处得到一个1/4波长厚度的SiO2(n=1.45)膜层的计算:真空1/4 波长:5504=137.5 在 SiO2 中被压缩后的修正值:137.51.45=94.8 在550nm处得到1/4波长光学厚度,SiO2的膜层厚度应该约为95nm。3 3举例:设计一个SiO2膜,尽可能地削弱在550nm处的反射分析:两列光在界面处反射都有180相位变化,相互抵消,由路径带来的相位变化即为最终的相位变化;尽可能削弱550nm

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