1、计算机组成原理实验一 课程实验二 课程设计北京邮电大学计算机科学与技术学院实验中心系统结构实验室2011年 2月1TEC-5 计算机科学与技术学院系统结构实验室课程实验4 TEC-5计算机组成原理实验系统41 运算器组成实验 （ 3学时）；42 双端口存储器原理实验 （ 3学时）；43 数据通路组成实验 （ 3学时）；44 微程序控制器组成实验 （ 3学时）；45 CPU组成和机器指令执行实验 （ 4学时）； 2TEC-5 计算机科学与技术学院系统结构实验室课程设计41常规型硬联线控制器的设计与调试 （ 3周时）；3TEC-5 计算机科学与技术学院系统结构实验室实验系统简介4控制台；4数据通路
2、；4控制器；4用户自选器件试验区；4时序电路；4电源部分；4TEC-5 计算机科学与技术学院系统结构实验室实验系统简介控制台开关控制器数据通路时序电路数据开关脉冲按钮拨动开关5TEC-5 计算机科学与技术学院系统结构实验室数据通路总体图6TEC-5 计算机科学与技术学院系统结构实验室逻辑测试笔4TTL/CMOS逻辑测试笔4测试 TTL/CMOS逻辑高 (H)低 (L)电平；4测试连续脉冲 ( )；4单次脉冲计数器(D)；7TEC-5 计算机科学与技术学院系统结构实验室逻辑测试笔使用说明4将黑色鱼夹接地，红色接被测设备的正 5V电源。4本产品寻找故障的方法有两种：一种是先用逻辑笔检出关键信号（如
3、时钟、起动、移位、复位）丢失的地方，根据被测设备的逻辑原理把故障缩小到一个较小的范围内，再对被怀疑的组件配合脉冲笔进行脉冲注入 响应测试，判断组件的好坏。另一种方法是先对某串电路进行脉冲注入 响应测试，看信号能否从始端送到终端，用同样方法检查每一串电路，直到把故障找出来。8TEC-5 计算机科学与技术学院系统结构实验室测 量内容 输 入信号 显 示 结 果静 态测 量 低 电 平高 电 平中 间态高阻 态 “L”灯亮“H”灯亮“L”、 “H”灯都不亮“D”灯亮 动态测 量 5MC正脉冲 5MC负 脉冲 0 3MC方波 “ L” 、 “” 灯亮“ H” 、 “” 灯亮“ L” 、 “ H” 、 “” 灯都亮 单 脉冲捕捉 正极性 负 极性 “ L” 灯亮“ H” 灯亮来一脉冲 “” 灯 闪动 一次9TEC-5 计算机科学与技术学院系统结构实验室逻辑测试笔使用说明4若需拆卸，先把电源插座上的螺帽旋下，然后旋开笔壳与探针即可维修。4注： 、当测试 TTL电路逻辑笔的开关拨到标有 “TTL”的一侧，测试 CMOS电路将开关拨到标有 “CMOS”的一侧。4 、逻辑笔测试电平指标与 TTL和CMOS标准相一致。 、逻辑笔测试电平指标与 TTL和 CMOS标准相一致。10TEC-5 计算机科学与技术学院系统结构实验室
