1、单一来源采购专业人员论证意见表时间：2019年3月12日 中央主管预算单位 中国科学院中央预算单位 中国科学院电工研究所项目名称 光致发光少子寿命成像系统项目背景近年来，尽管光伏产业发展迅速，但是高效率晶体硅太阳电池的研究仍然是近中长期仍为业界的研究重点。中国科学院电工研究所一直从事高效太阳电池的研究，已经承担了有关高效晶体硅太阳电池的多项国家课题，也建立了国内先进的晶体硅、化合物薄膜太阳能电池研究平台，但是对于半导体材料质量以及工艺过程中的质量监控还缺乏相关设备手段，而半导体材料的质量和过程污染控制是影响半导体器件性能的一项关键指标。 光致发光(PL)是一种非接触、无损害的缺陷探测。这种方法
2、可以在太阳电池生产工艺中的任意步骤进行，结合系统附带的准稳态少子寿命测试方法，能够获得高清晰的缺陷导致器件失效区域的微区分布的同时从理论上研究硅片质量、工艺步骤对实现高转换效率的太阳电池的影响机制。 专家1论证意见高效晶体硅太阳电池目前仍是广泛关注的研究重点，其中太阳电池片和工艺过程中的杂质，结构性缺陷的控制是实现高效的一个关键。电工所拟采购的BT imaging的 R2-PLUS光致发光少子少子寿命测量设备具备信息可视化的特点，对提高电工所的高效太阳电池材料和工艺以及器件基础理论水平都有着很重要的价值。该设备的分辨率达高大1024x1024 像素，测量速度0.05秒，完全可以满足电工所在高效
3、太阳电池研究方面的要求。目前国内尚无同类产品，同时在国际上相关的技术检测专利都是由BT imaging公司拥有，相关设备在光伏研究领域占据主导地位，因此建议采用单一来源方式采购该设备，所以该项目采购只能采用单一来源采购方式。 姓名：左玉华 工作单位：中国科学院半导体研究所职称：研究员专家2论证意见高效晶体硅太阳电池在近几十年仍然占据光伏发电的重要地位。电工所拟采购的BT imaging的R2-PLUS是一种高性能的硅片和工艺片性能检测设备，其针对太阳电池硅片和工艺过程中的杂质污染、结构性损伤等缺陷进行光致发光和的面扫描，配备少子寿命的测试配件，便于将少子寿命进行面分布，同时呈现缺陷分布及相关电
4、学参数的面分布。购买此设备有利于提高电工所在高效太阳电池材料和器件研究方面的测量水平，促进电工所在高效太阳能电池方面研究水平和工作进度。由于设备厂商在相关领域强大的研究基础和国际影响力，能够在设备使用和功能开发方面提供更多的技术支撑，因此建议采用单一来源方式采购该设备。 姓名：韩培德 工作单位：中国科学院半导体究所职称：研究员专家3论证意见光致发光和少子寿命测试系统是薄膜研究的基本设备。电工所开展高效太阳能电池方面的研究，应该配备此类设备。澳大利亚BT imaging公司的R 系列光致发光少子寿命测试系统是目前世界上同类产品中技术最成熟、应用最广泛的产品，在晶体硅太阳电池研究与生产领域享有很高
5、的声誉，是晶体硅太阳电池材料和器件研究的必备测量仪器。其成像精度目前已经可以达到25微米量级，能完全满足电工所实验测硅片和太阳电池157*157平方毫米大小的要求，因此建议采用单一来源方式采购该设备。 姓名：徐征 工作单位：北京交通大学职称：教授专家4论证意见光致发光技术（）是一种无损的光谱测定方法，能够快速、无损的分析材料的结构、成分与品质，而且发光的面分布更有助于分析其中的失效元素的面分布。检测速度快，精度高，能实时找到每个致效率降低的缺陷和原因，真正实现了在线的准确快速检测。这种检测方法需要配备高精度成像单元和功能复杂的数据处理软件，目前国内外除了澳大利亚BT imaging公司之外，还未见到能够同时提高满足光致发光和少子寿命测试兼容的测试设备， BT imaging.是光伏产业 PL的创始公司。拥有最早及最全面的专利和最成熟的品牌。其设备兼备少子寿命成像功能，精度达到几十微米，曝光时间为0.05秒，软件具有图像分析和曲线拟合等功能，在国内外获得一致好评。是澳大利亚新南威尔士大学光伏研究院的衍生公司，拥有强大的技术支持。建议采用单一来源方式购买。姓名：贾锐 工作单位：中国科学院微电子研究所职称：研究员专家5论证意见光致发光少子寿命成像系统采购程序符合相关法律规定，只能采用单一来源方式采购进口产品。 姓名：彭锐 工作单位：北京市玄德律师事务所职称：律师
