晶体结构习题.doc

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1、第二章 晶体结构与晶体中的缺陷1、证明等径圆球面心立方最密堆积的空隙率为 25.9。解:设球半径为 a,则球的体积为 4/3a3,求的 z=4,则球的总体积(晶胞)44/3a3,立方体晶胞体积: ,空间利用率=球所占体积/ 空间体216)(a积=74.1%,空隙率=1-74.1%=25.9%。2、金属镁原子作六方密堆积,测得它的密度为 1.74 克/厘米 3,求它的晶胞体积。解:=m/V =1.74g/cm 3, V=1.3710-22。3、 根据半径比关系,说明下列离子与 O2-配位时的配位数各是多少 ?解:Si 4+ 4; K+ 12; Al3+ 6; Mg2+ 6。4、一个面心立方紧密堆

2、积的金属晶体,其原子量为 M,密度是 8.94g/cm3。试计算其晶格常数和原子间距。解:根据密度定义,晶格常数 )(096.)(1096.4.81023.6/(4 3/13/830 nmcmMa 原子间距= 4.2/)/ /ar5、 试根据原子半径 R 计算面心立方晶胞、六方晶胞、体心立方晶胞的体积。解:面心立方晶胞: 333016)2(RV六方晶胞(1/3): 32 28/)/8(/ Rca 体心立方晶胞: 3330/4)4(6、MgO 具有 NaCl 结构。根据 O2-半径为 0.140nm 和 Mg2+半径为 0.072nm,计算球状离子所占据的体积分数和计算 MgO 的密度。并说明为

3、什么其体积分数小于 74.05%?解:在 MgO 晶体中,正负离子直接相邻,a 0=2(r+r-)=0.424(nm)体积分数=4(4/3)(0.14 3+0.0723)/0.4243=68.52%密度=4(24.3+16)/6.02310 23(0.42410-7)3=3.5112(g/cm3)MgO 体积分数小于 74.05%,原因在于 r+/r-=0.072/0.14=0.42350.414,正负离子紧密接触,而负离子之间不直接接触,即正离子将负离子形成的八面体空隙撑开了,负离子不再是紧密堆积,所以其体积分数小于等径球体紧密堆积的体积分数 74.05%。7、半径为 R 的球,相互接触排列

4、成体心立方结构,试计算能填入其空隙中的最大小球半径 r。体心立方结构晶胞中最大的空隙的坐标为(0,1/2 ,1/4)。解:在体心立方结构中,同样存在八面体和四面体空隙,但是其形状、大小和位置与面心立方紧密堆积略有不同(如图 2-1 所示)。设:大球半径为 R,小球半径为 r。则位于立方体面心、棱心位置的八面体空隙能够填充的最大的小球尺寸为: Rar3094.2/420位于立方体(0.5,0.25,0)位置的四面体空隙能够填充的最大的小球尺寸为:Rr 291.)/(5)/5(0 图 2-1 体心立方结构 8、纯铁在 912由体心立方结构转变成面心立方,体积随之减小 1.06%。根据面心立方结构的

5、原子半径 R 面心计算体心立方结构的原子半径 R 体心。解:因为面心立方结构中,单位晶胞 4 个原子, ;而体心立方FFa20结构中,单位晶胞 2 个原子, IIa3/0所以, 16.)(2)()3/43IFI RR解得:R F=1.0251RI,或 RI=0.9755RF9、有效离子半径可通过晶体结构测定算出。在下面 NaCl 型结构晶体中,测得 MgS 的晶胞参数为 a=0.52nm(在这种结构中,阴离子是相互接触的)。若 CaS(a=0.567nm)、CaO(a=0.48nm)和 MgO(a=0.42nm)为一般阳离子阴离子接触,试求这些晶体中各离子的半径。解: MgS 中 a=5.20

6、,阴离子相互接触,a= ,r2 =1.84;2srCaS 中 a=5.67,阴阳离子相互接触, a=2(r+r-), =0.95;2acrCaO 中 a=4.80,阴阳离子相互接触,a=2(r +r-), =1.40;2orMgO 中 a=4.20,阴阳离子相互接触,a=2(r +r-), =0.702Mgr10、氟化锂(LiF)为 NaCl 型结构,测得其密度为 2.6gcm 3,根据此数据计算晶胞参数,并将此值与你从离子半径计算得到数值进行比较。解:LiF 为 NaCl 型结构,Z=4, , , ,根据离子半径 3aV3/6.2/cmgv05.4a, 。14.)(2ra11、Li 2O 的

7、结构是 O2-作面心立方堆积,Li +占据所有四面体空隙位置。求:(1) 计算四面体空隙所能容纳的最大阳离子半径,并与书末附表 Li+半径比较,说明此时 O2-能否互相接触。(2) 根据离子半径数据求晶胞参数。(3) 求 Li2O 的密度。解:(1)如图 2-2 是一个四面体空隙,O 为四面体中心位置。, , , rArBC2rE33/23/rCEG,3/62G , ,EFCFG/6/rCO,2/A 301.)2/6(rrAO查表知 +=0.680.301,O 2-不能互相接触;Lir(2)体对角线= =4(r+r-),a=4.665 ;(3)=m/V=1.963g/cm 3 a3图 2-2

8、四面体空隙12、MgO 和 CaO 同属 NaCl 型结构,而它们与水作用时,则 CaO 要比 MgO活泼,试解释之。解: 与 , ,使 CaO 结构较 MgO 疏松,H 2O 易于进入,2Mgr2Ca2r2Mg所以活泼。13、根据 CaF2 晶胞图画出 CaF2 晶胞的投影图。解:如图 2-3。图 2-314、算一算 CdI2 晶体中的 I-及 CaTiO3 晶体中 O2-的电价是否饱和。解:CdI 2 晶体,Cd 2+:CN=6,I -与三个在同一边的 Cd2+相连;I -:CN=3,I -电价饱和;iZCN1CaTiO3 晶体,Ca 2+:CN=12,Ti 4+:CN=6,O 2-OTi

9、2Ca4:CN=6;,O 2-电价饱和。i _215、(1) 画出 O2-作而心立方堆积时,各四面体空隙和八面体空隙的所在位置(以一个晶胞为结构基元表示出来); (2) 计算四面体空隙数、八而休空隙数与 O2-数之比;(3) 根据电价规则,在下面情况下,空隙内各需填入何种价数的阳离子,并对每一种结构举出个例子。I所有四面体空隙位置均填满;II所有八而体空隙位置均填满;III填满半四面体空隙位置;IV填满半八面休空隙位置。解:(1)略;(2)四面体空隙数/O2-数=2:1,八面体空隙数/O 2-数=1:1;(3)ICN=4 ,z +/48=2,z +=1,Na 2O,Li 2O;IICN=6,z

10、 +/66=2,z +=2,FeO,MnO;III CN=4, z+/44=2,z+=4,ZnS,SiC ;IV CN=6,z +/63=2,z +=4,MnO 2。16、下列硅酸盐矿物各属何种结构类型:Mg2SiO4,KAlSi 3O8,CaMgSi 2O6, Mg3Si4O10(OH)2,Ca 2AlAlSiO7解:岛状;架状;单链;层状(复网);组群(双四面体)。17、石棉矿如透闪石 Ca2Mg5Si4O11(OH)2 具有纤维状结晶习性,而滑石Mg2Si4O10(OH)2 却具有片状结晶习性,试解释之。解:透闪石双链结构,链内的 Si-O 键要比链间的 Ca-O、Mg-O 键强很多,所

11、以很容易沿链间结合力较弱处劈裂成为纤维状;滑石复网层结构,复网层由两个SiO 4层和中间的水镁石层结构构成,复网层与复网层之间靠较弱的分子间作用力联系,因分子间力弱,所以易沿分子间力联系处解理成片状。18、石墨、滑石和高岭石具有层状结构,说明它们结构的区别及由此引起的性质上的差异。解:石墨中同层 C 原子进行 SP2 杂化,形成大 键,每一层都是六边形网状结构。由于间隙较大,电子可在同层中运动,可以导电,层间分子间力作用,所以石墨比较软。19、 (1) 在硅酸盐晶体中,Al 3+为什么能部分置换硅氧骨架中的 Si4+;(2) Al3+置换 Si4+后,对硅酸盐组成有何影响?(3) 用电价规则说

12、明 Al3+置换骨架中的 Si4+时,通常不超过一半,否则将使结构不稳定。解:(1) Al 3+可与 O2-形成 AlO45-;Al 3+与 Si4+处于第二周期,性质类似,易于进入硅酸盐晶体结构中与 Si4+发生同晶取代,由于鲍林规则,只能部分取代;(2) Al3+置换 Si4+是部分取代,Al 3+取代 Si4+时,结构单元AlSiO 4ASiO5,失去了电中性,有过剩的负电荷,为了保持电中性,将有一些半径较大而电荷较低的阳离子如 K+、Ca 2+、Ba 2+进入结构中;(3)设 Al3+置换了一半的 Si4+,则 O2-与一个 Si4+一个 Al3+相连,阳离子静电键强度=3/41+4/

13、41=7/4,O 2-电荷数为-2,二者相差为 1/4,若取代超过一半,二者相差必然1/4,造成结构不稳定。 20、 说明下列符号的含义:VNa,V Na,V Cl,.(V NaVCl),CaK ,CaCa,Cai 解:钠原子空位;钠离子空位,带一个单位负电荷;氯离子空位,带一个单位正电荷;最邻近的 Na+空位、Cl -空位形成的缔合中心; Ca2+占据 K.位置,带一个单位正电荷;Ca 原子位于 Ca 原子位置上;Ca 2+处于晶格间隙位置。21、写出下列缺陷反应式:(1) NaCl 溶入 CaCl2 中形成空位型固溶体;(2) CaCl2 溶入 NaC1 中形成空位型固溶体;(3) NaC

14、l 形成肖脱基缺陷;(4) AgI 形成弗仑克尔缺陷 (Ag+进入间隙)。解:(1) NaCl NaCa+ ClCl + VCl2Cal (2) CaCl2 CaNa + 2ClCl + VNaNl (3) O VNa + VCl(4) AgAg VAg + Agi22、什么是肖特基缺陷、弗兰克尔缺陷?他们属于何种缺陷,发生缺陷时位置数是否发生变化?答:肖特基缺陷:晶体的结构基元,从正常的结点位置上位移到晶体的表面而正常位置上出现了空位,这种缺陷即是。位置数增殖,体积增大。弗兰克尔缺陷:晶体结构中的结构基元,从正常的结点位置上位移到晶体的间隙位置上,而正常位置上出现了空位,这种缺陷即是。位置数

15、不增殖,体积不增大。23、 试写出少量 MgO 掺杂到 Al2O3 中和少量 YF3 掺杂到 CaF2 中的缺陷方程。(a)判断方程的合理性。(b)写出每一方程对应的固溶式。解: (1)23AlOAlioMggM A(2)23lloOV (3)23CaFiFY A(4)26aC (a)书写缺陷方程首先考虑电价平衡,如方程(1)和(4)。在不等价置换时,3Mg 2+ 2Al 3+ ;2Y 3+ 3Ca 2+。这样即可写出一组缺陷方程。其次考虑不等价离子等量置换,如方程(2)和(3)2Mg 2+ 2Al 3+ ;Y 3+ Ca 2+。这样又可写出一组缺陷方程。在这两组方程中,从结晶化学的晶体稳定性

16、考虑,在离子晶体中除萤石型晶体结构可以产生间隙型固溶体以外,由于离子晶体中阴离子紧密堆积,间隙阴离子或阳离子都会破坏晶体的稳定性。因而间隙型缺陷在离子晶体中(除萤石型)较少见。上述四个方程以(2)和(3)较合理。当然正确的判断必须用固溶体密度测定法来决定。(b)(1) 3x32OMgAl(2) 2-(3) x-1FYCa(4) 23-24、 试写出以下缺陷方程(每组写出二种),并判断是否可以成立,同时简单说明理由。(1) MgOAl32(2) 2ZrCa(3) 23FY解:1、(1) 两种缺陷反应方程式为: MgOAl2A、 oxMgOVAl323B、 iMgOl 2“32 其中 A 可以成立

17、,因为 NaCl 型的 MgO 晶体,只有较小的四面体空隙未被阳离子占据,Al 3+离子填隙会破坏晶体的稳定性。(2) 两种缺陷反应方程式为: 2ZrOCaA、 xoZrZrOVCa “2B、 irr O2“2 A、B 两种都可能成立,其中在较低温度下,以 A 方式固溶;在高温下(1800 ),以 B 方式固溶。因为 ZrO2 为萤石型结构,在高温下具有较大的立方体和八面体空隙,能够形成填隙型缺陷。(3) 两种缺陷反应方程式为: 23CaFYA、 xFiCaFY232 B、 aV6“2A 可能性较大。因萤石晶体中存较多的八面体空隙, F-离子半径较小,形成填隙型固溶体比较稳定。25、 试述晶体

18、结构中点缺陷的类型。以通用的表示法写出晶体中各种点缺陷的表示符号。试举例写出 CaCl2 中 Ca2+置换 KCl 中 K+或进入到 KCl 间隙中去的两种点缺陷反应表示式。解:晶体结构中的点缺陷类型共分为:间隙原子、空位和杂质原子等三种。在MX 晶体中,间隙原子的表示符号为 Mi 或 Xi;空位缺陷的表示符号为:VM 或 VX。如果进入 MX 晶体的杂质原子是 A,则其表示符号可写成:A M或 AX(取代式)以及 Ai(间隙式)。当 CaCl2 中 Ca2+置换 KCl 中 K+而出现点缺陷,其缺陷反应式如下:ClKClaa2 CaCl2 中 Ca2+进入到 KCl 间隙中而形成点缺陷的反应

19、式为:ClKiClV 26、在缺陷反应方程式中,所谓位置平衡、电中性、质量平衡是指什么?解:位置平衡是指在化合物 MaXb 中,M 格点数与 X 格点数保持正确的比例关系,即 M : X=a : b。电中性是指在方程式两边应具有相同的有效电荷。质量平衡是指方程式两边应保持物质质量的守恒。27、TiO 2-x 和 Fe1-xO 分别为具有阴离子空位和阳离子空位的非化学计量化合物。试说明其导电率和密度随氧分压 PO2 变化的规律(以缺陷方程帮助说明)。答:(1)TiO 2-x 的缺陷反应方程为: 2 213()TiOiVgA根据质量守恒定律可得 ,故其密度随氧分压增加而增加,而电导率随氧分压的增加

20、而减小,与氧分压的 1/6 次方成反比。(2)Fe 1-xO 缺陷反应方程式为: ,或21()FeFeOFegA21()OFeghVA根据质量守恒定律可得 ,故其密度随氧分压增加而下降,而电导率随氧分压的增加而增加,与氧分压的 1/6 次方成正比。28、对某晶体的缺陷测定生成能为 84KJ/mol,计算该晶体在 1000K 和 1500K时的缺陷浓度。解:根据热缺陷浓度公式: )2exp(kTGNn由题意 G=84KJ/mol=84000J/mol则 )(RM其中 R=8.314J/molK当 T1=1000K 时, 3104.6)1034.82exp()2exp( TGn当 T2=1500K

21、 时, 25R29、试写出在下列二种情况,生成什么缺陷?缺陷浓度是多少?(a)在 Al2O3中,添加 0.01mol%的 Cr2O3,生成淡红宝石;(b )在 Al2O3 中,添加0.5mol%的 NiO,生成黄宝石。解:(a)在 Al2O3 中,添加 0.01mol%的 Cr2O3,生成淡红宝石的缺陷反应式为:oAlAlCrr332 生成置换式杂质原子点缺陷。其缺陷浓度为:0.01% 0.004% 410 -3 %5(b)当添加 0.5mol%的 NiO 在 Al2O3 中,生成黄宝石的缺陷反应式为:oAlOAlVNii223 生成置换式的空位点缺陷。其缺陷浓度为:0.5% 0.3 %533

22、0、 非化学计量缺陷的浓度与周围气氛的性质、压力大小相关,如果增大周围氧气的分压,非化学计量化合物 Fe1-xO 及 Zn1+xO 的密度将发生怎样变化?增大?减少?为什么?解:(a)非化学计量化合物 Fe1-xO,是由于正离子空位,引起负离子过剩: xoFeVhgO “2)(1按质量作用定律,平衡常数 21“2OFeoPK由此可得: 21“6FeV即:铁空位的浓度和氧分压的 1/6 次方成正比,故当周围分压增大时,铁空位浓度增加,晶体质量减小,则 Fe1-xO 的密度也将减小。(b)非化学计量化合物 Zn1+xO,由于正离子填隙,使金属离子过剩:21eZnZnOi 根据质量作用定律 21iO

23、KeP得 iZn6/op即:间隙离子的浓度与氧分压的 1/6 次方成反比,故增大周围氧分压,间隙离子浓度减小,晶体质量减小,则 Zn1+xO 的密度也将减小。31、 非化学计量氧化物 TiO2-x 的制备强烈依赖于氧分压和温度:( a)试列出其缺陷反应式。(b)求其缺陷浓度表达式。解:非化学计量氧化物 TiO2-x,其晶格缺陷属于负离子缺位而使金属离子过剩的类型。(a)缺陷反应式为:或2 213()TiOiVgA 21OeVo(b)缺陷浓度表达式: 612OoP32、(a)在 MgO 晶体中,肖特基缺陷的生成能为 6eV,计算在 25和 1600时热缺陷的浓度。 (b)如果 MgO 晶体中,含有百万分之一 mol 的Al2O3 杂质,则在 1600时,MgO 晶体中是热缺陷占优势还是杂质缺陷占优势?说明原因。解:(a)根据热缺陷浓度公式: )2exp(kTGNn由题意 G=6ev=61.60210-19=9.61210-19JK=1.3810-23 J/KT1=25+273=298K T2=1600+273=1873K298K: 51231902.)80.6exp( Nn

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