1、电子元器件检验规范标准书修订日期修订单号 修订内容摘要 页次 版次 修订 审核 批准2011/03/30 / 系统文件新制定 4 A/0 / / /批准： 审核： 编制：部分电子元器件检验规范标准书IC 类检验规范(包括 BGA)1. 目的 作为 IQC 人员检验 IC 类物料之依据。2. 适用范围 适用于本公司所有 IC（包括 BGA）之检验。3. 抽样计划 依 MIL-STD-105E，LEVEL II 正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考抽样计划 。4.允收水准（AQL）严重缺点(CR): 0;主要缺点(MA): 0.4;次要缺点(MI): 1.5.5. 参考文件 无检验项目 缺陷属性
2、缺陷描述 检验方式 备注包装检验 MAa.根据来料送检单核对外包装或 LABEL 上的 P/N 及实物是否都正确,任何有误,均不可接受。b.包装必须采用防静电包装，否则不可接受。目检数量检验 MAa. 实际包装数量与 Label 上的数量是否相同,若不同不可接受；b. 实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接受。目检点数外观检验 MAa. Marking 错或模糊不清难以辨认不可接受；b. 来料品名错，或不同规格的混装，均不可接受；c. 本体变形，或有肉眼可见的龟裂等不可接受；d. 元件封装材料表面因封装过程中留下的沙孔，其面积不超过 0.5mm2,且未露出基质, 可接受；否则不可
3、接受；e. Pin 氧化生锈，或上锡不良，均不可接受；f. 元件脚弯曲，偏位, 缺损或少脚，均不可接受；目检或10 倍以上 的放大镜检验时，必须佩带静电带。备注：凡用于真空完全密闭方式包装的 IC，由于管理与防护的特殊要求不能现场打开封装的，IQC 仅进行包装检验，并加盖免检印章；该 IC 在 SMT 上拉前 IQC 须进行拆封检验。拆封后首先确认包装袋内的湿度显示卡 20%RH 对应的位置有没有变成粉红色，若已变为粉红色则使用前必须按供应商的要求进行烘烤。（三） 贴片元件检验规范(电容,电阻,电感)1. 目的 便于 IQC 人员检验贴片元件类物料。2. 适用范围 适用于本公司所有贴片元件（电
4、容,电阻,电感）之检验。3. 抽样计划 依 MIL-STD-105E，LEVEL II 正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考抽样计划 。4.允收水准（AQL）严重缺点(CR): 0;主要缺点(MA): 0.4;次要缺点(MI): 1.5.5. 参考文件LCR 数字电桥操作指引数字万用表操作指引检验项目 缺陷属性 缺陷描述 检验方式 备注包装检验 MAa. 根据来料送检单核对外包装或 LABEL 上的 P/N 及实物是 否都正确,任何有误,均不可接受。 b. 包装必须采用防静电包装，否则不可接受。目检数量检验 MAa. 实际包装数量与 Label 上的数量是否相同,若不同不可接受；实际来料数量与
5、送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接受。目检 点数外观检验 MAa.Marking 错或模糊不清难以辨认不可接受；b.来料品名错，或不同规格的混装，均不可接受；c.本体变形，或有肉眼可见的龟裂等不可接受；d.元件封装材料表面因封装过程中留下的沙孔，其面积不超过0.5mm2,且未露出基质, 可接受；否则不可接受；e.Pin 氧化生锈，或上锡不良，均不可接受； 目检10 倍以上的放大镜检验时，必须佩带静电带。电性检验 MA 元件实际测量值超出偏差范围内.LCR 测试仪数字万用表检验时，必须佩带静电带。二极管类型 检 测 方 法LED选择数字万用表的二极管档，正向测量，LED 需发出与要求相符的颜
6、色的光，而反向测量不发光；否则该二极管不合格。注：有标记的一端为负极。其它二极管选择数字万用表的二极管档，正向测量，读数需小于 1，而反向测量读数需无穷大；否则该二极管不合格。注：有颜色标记的一端为负极。备注抽样计划说明：对于 CHIP 二极管，执行抽样计划时来料数量以盘为单位，样本数也以盘为单位；从抽检的每盘中取 35pcs 元件进行检测；AQL 不变。检验方法见LCR 数字电桥测试仪操作指引 和数字万用表操作指引。（四） 插件用电解电容.1. 目的 作为 IQC 人员检验插件用电解电容类物料之依据。2. 适用范围 适用于本公司所有插件用电解电容之检验。3. 抽样计划 依 MIL-STD-1
7、05E，LEVEL II 正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考抽样计划 。4. 允收水准（AQL）严重缺点(CR): 0;主要缺点(MA): 0.4;次要缺点(MI): 1.5.5. 参考文件LCR 数字电桥操作指引 、数字电容表操作指引 。检验项目 缺陷属性 缺陷描述 检验方式 备注包装检验 MAa. 根据来料送检单核对外包装或 LABEL 上的 P/N 及实物是否都正确,任何有误,均不可接受。目检数量检验 MAa.实际包装数量与 Label 上的数量是否相同,若不同不可接受；b.实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接受。目检 点数外观检验 MAa. 极性等标记符号印刷不清，难
8、以辨认不可接受；b. 电解电容之热缩套管破损、脱落，不可接受；c. 本体变形，破损等不可接受；d.Pin 生锈氧化，均不可接受。目检可焊性检验 MAa.Pin 上锡不良，或完全不上锡不可接受。(将 PIN 沾上现使 用之合格的松香水，再插入小锡炉 5 秒钟左右后拿起观看PIN 是否 100%良好上锡；如果不是则拒收)实际操作每 LOT 取510PCS 在 小锡炉上验 证上锡性尺寸规格检验 MA a. 外形尺寸不符合规格要求不可接受。 卡尺若用于新的Model，需在PCB 上对应的位置进行试插电性检验 MA a. 电容值超出规格要求则不可接受。用数字电容表或 LCR 数字电桥测试仪量测（五） 晶
9、体类检验规范1. 目的 作为 IQC 人员检验晶体类物料之依据。2. 适用范围 适用于本公司所用晶体之检验。3. 抽样计划 依 MIL-STD-105E，LEVEL II 正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考抽样计划 。4. 允收水准（AQL）严重缺点(CR): 0;主要缺点(MA): 0.4;次要缺点(MI): 1.5.5. 参考文件 数字频率计操作指引检验项目 缺陷属性 缺陷描述 检验方式 备注包装检验 MAa. 根据来料送检单核对外包装或 LABEL 上的 P/N 及实物是否都正确,任何有误,均不可接受。目检数量检验 MAa.实际包装数量与 Label 上的数量是否相同,若不同不可接受；
10、b.实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接受。目检点数外观检验 MAa. 字体模糊不清，难以辨认不可接受；b. 有不同规格的晶体混装在一起，不可接受；c.元件变形，或受损露出本体等不可接受；d.Pin 生锈氧化、上锡不良，或断 Pin，均不可接受。目检每 LOT 取510PCS 在小锡炉上验证上锡性电性检验 MA a. 晶体不能起振不可接受；b. 测量值超出晶体的频率范围则不可接受。测试工位 和数字频率计电性检测方法晶体 检 测 方 法32.768KHz 16.934MHz25.000MHz在好的样板的相应位置插上待测晶体, 再接通电源开机; 在正常开机后，用调试好的数字频率计测
11、量晶体，看测量的频率是否在规格范围内，若不能开机或测量值不在规格范围内，则该晶体不合格。24.576MHz在好的样板的相应位置插上待测晶体、CPU、内存条等，再接通电源开机，看能否正常开机显示；在正常开机显示后，用调试好的数字频率计测量晶体，看测量的频率是否在规格范围内，若不能开机显示或测量值不在规格范围内，则该晶体不合格。（六） 三极管检验规范1. 目的 作为 IQC 人员检验三极管类物料之依据。2. 适用范围 适用于本公司所有三极管之检验。3. 抽样计划 依 MIL-STD-105E，LEVEL II 正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考抽样计划 。4. 允收水准（AQL）严重缺点(CR)
12、: 0;主要缺点(MA): 0.4;次要缺点(MI): 1.5.5. 参考文件 无检验项目 缺陷属性 缺陷描述 检验方式 备注包装检验 MAa.根据来料送检单核对外包装或 LABEL 上的 P/N 及实物是否都正确,任何有误,均不可接受。b.包装必须采用防静电包装，否则不可接受。目检数量检验 MAa.实际包装数量与 Label 上的数量是否相同,若不同不可接受；b.实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接受。目检 点数外观检验 MAa. Marking 错或模糊不清难以辨认不可接受；b.来料品名错，或不同规格的混装，均不可接受；c.本体变形，或有肉眼可见的龟裂等不可接受；d.元件封
13、装材料表面因封装过程中留下的沙孔，其面积不超过 0.5mm2,且未露出基质, 可接受；否则不可接受；e.Pin 氧化生锈，或上锡不良，均不可接受。目检10 倍以上的放大镜检验时，必须佩带静电带。电性检验 无(七 )排 针 主要缺点(MA): 0.4;次要缺点(MI): 1.5.5. 参考文件 无检验项目 缺陷属性 缺陷描述 检验方式 备注包装检验 MA 根据来料送检单核对外包装或 LABEL 上的 P/N 及实物是否 都正确,任何有误,均不可接受。 目检数量检验 MAa.实际包装数量与 Label 上的数量是否相同,若不同不可接受；实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接受。目检
14、点数外观检验 MAa.Marking 错或模糊不能辩认；b.塑料与针脚不能紧固连接；c. 塑料体破损，体脏，变形，明显色差，划伤，缩水；d. 过锡炉后塑料体外观变色，变形，脱皮;e. 针脚拧结，弯曲，偏位, 缺损，断针或缺少；f. 针脚高低不平、歪针、针氧化、生锈;g. 针脚端部成蘑菇状影响安装.目检焊锡性检验 MAa.PIN 上锡不良，或完全不上锡,均不可接受；(将零件脚插入现使用之合格松香水内，全部浸润，再插入小锡炉 5 秒钟左右后拿起观看 PIN 是否 100%良好上锡；如果不是则拒收)实际操作每 LOT 取510PCS 在小锡炉上验证上锡性安装检验 MA a. 针脚不能与标准 PCB
15、顺利安装;b. 针脚露出机板长度小于 0.5mm 或大于 2.0mm; 卡尺针脚露出机板长度的标准为0.5mm2.0mm范围内。八 CABLE 类 检 验 规 范1. 目的 作为 C 人员检验 CABLE 类物料之依据。2. 适用范围 适用于本公司所有 CABLE 类 之检验。3. 抽样计划 依 MIL-STD-105E，LEVEL II 正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考抽样计划 。4. 允收水准（AQL）严重缺点(CR): 0;主要缺点(MA): 0.4;次要缺点(MI): 1.5.5 参考文件 无检验项目 缺陷属性 缺陷描述 检验方式 备注包装检验 MAa. 根据来料送检单核对外包装或
16、 LABEL 上的 P/N 及实物是否都正确,任何有误,均不可接受。目检数量检验 MAa. 数量与 Label 上的数量是否相同,若不同不可接受；b. 料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接受。目检点数外观检验 MAa. 五金件变形、划伤、生锈、起泡、发黄或其它电镀不良；b.塑料体变形、划伤、毛边、破（断）裂、异色等不良；c.排线破损、断裂、变形、异色、露铜丝、切口不齐等均不可接受；d.排线与支架等组装不牢，易松脱；e.标识 CABLE 接插方向的颜色不能明确分辩；c. 排线接头的颜色不符合规格要求;g.排线表面的丝印错.1.目检2.按前后左右上下各轻摇 3次排线接头处，看有无松脱现象
17、参考 Mechanical Drawing of Cable尺寸检验 MA a.长度不符合规格要求不可接受. 卷尺尺寸参考Mechanical Drawing of Cable电性测试检验 MAa. 排线的接线方式错不可接受;b. 排线接触不良或不能运行不可接受;c. IDE 排线的传输速率不符合要求不可接受.每批取 10pcs 送QA,请 QA 的同事帮助测试拉力测试检验 MAa.与公端对插,插拔力不符合规格要求的不可接受.( 拉力测试: 用标准 Box Header 与排线对插好，用拉力计测出其CABLE 完全被拉出后的最大拔出力。)实际操作备注1. 要求如下(低于 20PIN 的不作要求)：80PIN: 4.07.0Kgf ; 40PIN:3.56.0kgf : 34PIN:3.05.0kgf ;26PIN:2.04.0kgf ;20PIN:1.43.4kg2.接插 CABLE 要轻插，不可插坏主板之插座；3.测拉力时，必需沿水平方向拔出，如果拉拔力均不符合要求，须重测三次；如有一次符合，则此 CABLE 拉拔力合格；如三次均不符合要求，需转换另一 BOX HEADER (可连续转换三次新的 BOX HEADER)，以同样的方式测试。更换三次后仍不符合，则拒收退货。
