1、RST 内存检测软件（RST 只能检测 SD 和 DDR 内存，DDR2 DDR3 可能不 支持 2010-01-24 11:18:04| 分类： 技术教程 | 标签： |字号 大中小 订阅 工厂检测内存条质量的软件 Ram Stress Test，只要有一丁点问题，都能检查出来，推荐大家使用，各位一定都碰到过，提示内存不能为 READ，或者WRITTEN 的情况，很多时候都是软件问题，要解决他首先检查内存条的质量，然后再从软件去找问题。这个软件是最专业的，比那个 MEMREST 还好，只需要检查一边，好就是好，坏的就是坏的。这个软件确实很好，内存坏的话会显示红色，并且报警。但是只能检测一代内
2、存，二代内存就需要微软的检测工具了。Ram Stress Test 是美国 Ultra-X 公司旗下的一个专业记忆体测试程式，是专门给系统生产厂商出机前用的测试程式，他其实是从其他的产品独立出来的一项测试，该公司专作系统测试的软硬体，方便生产厂商将产品做详细测试，至于 R.S.T.在目前记忆体生产业使用非常普遍，因为经过他的测试几乎就能应付大部分的记忆体问题，所以是非常好用的一个测试工具！ 使用非常简易，只要设定为软碟开机就行了，他是一个独立开发的系统，没有依附任何作业系统，相容于 x86 系列，只要 BIOS 认的到的容量他都能测！ 发现 ATS 选项错误，在 BIOS 中，记忆体选项设成
3、Auto 时，记忆体的CL=2，改成 Manual，自设 CL=2.5 时，上述选项才能通过。附件 IMZ 需要用 winImage 展开到软盘上，然后用此软盘启动系统。附件 NRG 是用 Nero 烧录可启动光盘的软盘镜像文件。程序执行后，第一选项是测试物理内存中基本内存地址（640K），第二项是扩展内存地址，第三项是测试你 CPU 的 L2 cache。 可以测试 SD 及 DDR 内存。 闪动数字0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF 0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF依次代表内存条的 8 颗颗粒。从左到右横着数：0-7 代表第 1
4、 颗粒区域、8-F 代表第 2 颗粒、0-7 代表第 3 颗粒、8-F 代表第 4 颗粒、0-7 代表第 5 颗粒代、8-F 代表第 6 颗粒、0-7 代表第7 颗粒、8-F 代表第 8 颗粒 点不亮内存的测试方法 很多内存短路或者颗粒损坏后都不能点亮，点不亮的可以用一根好的内存去带动它（可解决部分点不亮问题）。必须 SD 的带 SD 的，DDR 的带 DDR 的。本软件会自动跳过好的去检测坏的那根。 发现 ATS 选项错误，在 BIOS 中，记忆体选项设成 Auto 时，记忆体的CL=2，改成 Manual，自设 CL=2.5 时，上述选项才能通过。 程序执行后，第一选项是测试物理内存中基本
5、内存地址（640K），第二项是扩展内存地址，第三项是测试 CPU 的 L2 cache。RAM 测试软件说明书 (R.S.T )UX 版闪动的一排测试数字代表内存 8 颗粒的测试情况。从左至右，0-7 代表第一区域，8-F 代表第二区域;0-7 代表第三区域,8-F 代表第四区域;依次代表内存条的 8 颗颗粒。DDR8 位与 16 位的单面测法:. 0-7(1 )区域如果出现乱码,代表这根 DDR 内存条的第 1 颗粒已经损坏. 8-F(2 )区域如果出现乱码,代表这根 DDR 内存条的第 2 颗粒已经损坏. 0-7(3 )区域如果出现乱码,代表这根 DDR 内存条的第 3 颗粒已经损坏. 8
6、-F(4 )区域如果出现乱码,代表这根 DDR 内存条的第 4 颗粒已经损坏. 0-7(5 )区域如果出现乱码,代表这根 DDR 内存条的第 5 颗粒已经损坏. 8-F(6 )区域如果出现乱码,代表这根 DDR 内存条的第 6 颗粒已经损坏. 0-7(7 )区域如果出现乱码,代表这根 DDR 内存条的第 7 颗粒已经损坏. 8-F(8 )区域如果出现乱码,代表这根 DDR 内存条的第 8 颗粒已经损坏注意 DR 的颗粒排列循序是 1-2-3-4-5-6-7-8如果你是 128M 的双面 DDR 内存,如以上显示界面图:1-16M -16-32M -32-48M -48-64M-从 1M 到 6
7、4M 的上面的 4 根虚线上出现乱码的话,说明这根内存的的第一面的颗粒有问题(判断哪个颗粒的好坏按照以上的说明)64-80M -80-96M -96-112M-112-128M-从 64M 到 128M 的上面的 4 根虚线上出现乱码的话,说明这根内存的的第二面的颗粒有问题(判断哪个颗粒的好坏按照以上的说明)注意:在内存的 PCB 板上的两边标着 1 与 92 的代表第一面，93 与 184 的代表第二面。1-128M 的 8 根虚线是用来区分两面区域的作用.SD 的 8 位与 16 位的单面测法:. 0-7(1)区域如果出现乱码,代表这根 SDR 内存条的第 8 颗粒已经损坏. 8-F(2)
8、区域如果出现乱码,代表这根 SDR 内存条的第 4 颗粒已经损坏. 0-7(3)区域如果出现乱码,代表这根 SDR 内存条的第 7 颗粒已经损坏. 8-F(4)区域如果出现乱码,代表这根 SDR 内存条的第 3 颗粒已经损坏. 0-7(5)区域如果出现乱码,代表这根 SDR 内存条的第 6 颗粒已经损坏. 8-F(6)区域如果出现乱码,代表这根 SDR 内存条的第 2 颗粒已经损坏. 0-7(7)区域如果出现乱码,代表这根 SDR 内存条的第 5 颗粒已经损坏. 8-F(8)区域如果出现乱码,代表这根 SDR 内存条的第 1 颗粒已经损坏（注： PCB 板上从 1 到 84 为第一面，颗粒的排列顺序从 1 到 84 为 8-7-6-5-4-3-2-1，切记注意）4.通过以上的介绍，说明 SD 的双面是跟 DDR 的是一样的。但是颗粒的好坏判断要按照它们的排列循序来判断。5.PCB 板的短路或者虚焊的测法:如果在 8 根虚线上都出现乱码，说明这根内存的 PCB 板有问题6.点不亮的内存的测试方法: 很多内存短路或者颗粒损坏后都不能点亮，点不亮的可以用一根好的内存去带动它。 必须 SD 的带 SD 的，DDR 的带 DDR 的。本软件会自动跳过好的那根去检测坏的那根。7.使用方法:直接把光盘插入光驱,在主板的 CMOS 里设置光驱起动, 启动后本软件会自动引导到测试界面进行检测。
