1、射线检测通用技术 III 级考试大纲1. 无损检测概论（见第一篇第三章）2. 射线检测物理基础2.1 原子与原子结构2.1.1 元素与原子a. 元素、元素周期（C）b. 原子（C）2.1.2 原子粒子a. 原子核（C）b. 质子、中子、电子；（C）2.1.3 原子运动a 力、库仑力（C）b. 轨道（C）c. 能级（C）d. 基态、激发态（C）a 电离（C）b 跃迁；（C）2.1.4 原子参数a. 原子序数（A）b 原子量（C）c 核电荷数（B）2.2 放射性衰变元素2.2.1 放射性衰变a. 衰变、衰变方式（C）b. 同位素、放射性同位素（B）2.2.2 衰变规律a. 活度、活度单位、比活度（
2、B）b. 半衰期、衰变常数（C）c. 衰变计算（B）2.3 射线种类与性质2.3.1 射线概念和主要种类（C）2.3.2 X 射线和 射线a. X 射线和 射线产生（C）b. X 射线和 射线本质（B）c. X 射线和 射线特性：电磁波、光量子、波长、能量、波粒二相性、波谱（B）2.4 射线与物质的相互作用2.4.1 射线与物质的主要作用a. 光电效应（B）b. 康普顿效应（B）c. 电子对效应（B）d. 瑞利散射（B）2.4.2 窄束单色射线的衰减a 窄束射线（B）b 单色射线（B）c 吸收、散射（A）d 线衰减系数、半值层、衰减公式的应用及综合计算（A）2.4.3 宽束连续谱射线的衰减a.
3、 X 射线谱（C）b. 宽束射线（B）c. 散射比（C）d. 线质（B）e. 衰减规律的应用和计算（C）2.4.4 吸收曲线的应用 ()3. 设备和器材3.1 X 射线机3.1.1 X 射线机的原理a. 基本结构（B）a 基本工作过程（C）b 主要技术条件（C）c 主要电路（C）3.1.2 X 射线机类型、特点和适用范围（B）3.1.3 X 射线管a 基本结构、基本功能（C）b 金属陶瓷管（B）c 高压电路（C）a 管电压、管电流（C）b 焦点、辐射角（C）3.1.4 X 射线机使用a. 操作程序（C）b. 训机过程（C）c. 维护保养（C）3.2 射线设备3.2.1 射线设备的特点（C）3.
4、2.2 射线设备的基本结构（C）3.2.3 射线的工作过程（B）3.2.4 射线源a 常用源（铱 192、钴 60、硒 75、铯 137、铥 170）的能量（C）b 常用源（铱 192、钴 60、硒 75、铯 137、铥 170）的半衰期（B）3.3 射线照相胶片3.3.1 胶片的构造和原理a 胶片结构 ：片基、结合层、感光乳剂层、保护层（C）b 潜影形成（C）3.3.2 胶片分类a 按感光度分类（C）b 按粒度分类（C）3.3.3 胶片感光特性a 底片黑度（B）b 感光特性曲线（C）c 感光度、灰雾度、梯度、宽容度（B）3.4 增感屏3.4.1 增感作用（C）3.4.2 增感屏主要类型和特点
5、a 金属增感屏结构、原理及特点（B）b 荧光增感屏及特点（C）c 金属荧光增感屏（C）3.4.3 铅箔增感屏的结构、特点（A）3.5 像质计3.5.1 像质计的作用与分类（B） 3.5.2 金属丝型像质计a 规格（B）b 象质指数（A）c 相对灵敏度（B）3.5.3 其他类型型像质计（C）a 平板孔型像质计结构、使用（C）b 槽型像质计的结构、使用（C）3.6 其它设备与器材3.6.1 黑度计：原理、使用；（C）3.6.2 标记a 标记的种类、作用（B）b “B“标记的的作用和使用（A）3.6.3 铅板：滤光板、遮挡板（C）3.6.4 暗室器材：安全灯、温度计、洗片槽、烘干箱、洗片机等（C）3
6、.6.5 辐射防护器材 ：剂量测定仪（C）4. 射线照相检测技术4.1 射线照相灵敏度影响因素4.1.1 对比度a 概念（A）b 公式（C）c 影响因素（B）d 对检测的影响（A）4.1.2 清晰度概念a 何不清晰度：概念极其计算、影响因素、对检测的影响（A）b 固有不清晰度概念极其影响因素、对检测的影响（B）4.1.3 颗粒度a 概念（B）b 对检测的影响（B）4.2 透照工艺条件的选择4.2.1 射线和能量的选择a X 射线和 射线的使用选择（B）b X 射线能量的选择（B）a 射线源的选择（C）4.2.2 焦距的选择a 最小焦距计算（A）b 诺模图的使用（B）4.2.3 考虑总的不清晰度
7、的焦距最小值a 理论计算（C）b 诺模图（C）c 实际选择值（C）4.2.4 曝光量选择a 互易律（A）b 平方反比定律（A）c 曝光因子（A）d 曝光量修正计算（A）4.3 透照方式4.3.1 透照方式选择a 直缝透照（B）b 环缝透照（A）a 各透照方式的灵敏度、缺陷检出特点、透照厚度差、裂纹检出角、便4.3.2 一次透照长度计算 a 透照厚度比要求（A）b 各透照方式的一次透照长度计算（A）4.4 曝光曲线应用4.4.1 曝光曲线的构成a.（KVT）曲线（B）b.（ET）曲线（B）c 各类曝光曲线的使用条件（B）4.4.2 曝光曲线的制作（C）4.4.3 曝光曲线的使用a 点法确定曝光参
8、数（A）b 二点法确定曝光参数（A）c 对角线法确定曝光参数（B）4.5 散射线控制4.5.1 散射线来源、分类（B）4.5.2 散射线影响因素（C）4.5.3 散射线的控制措施（B）4.6 焊缝透照常规工艺4.6.1 透照工艺卡和工艺规程的编制a 通用工艺规程的编制（C）b 编制透照工艺卡（C）4.6.2 检测基本过程（B）4.7 焊缝透照常规特定工艺4.7.1 大厚度比拭件的透照技术a 提高射线能量（C）b 双胶片技术（C）c 补偿技术（C）4.7.2 小径薄壁管透照技术a 透照布置（椭圆成象、重叠成象） （C）b 透照厚度比（C）c 透照次数（C）d 象质要求（C）4.8 室处理技术4.
9、8.1 显影液和定影液的成分、作用（C）4.8.2 洗片过程a 显影（B）b 停显（C）c 定影（B）d 水洗（C）e 干燥（C）4.9 辐射防护4.9.1 剂量的定义、单位及标准a 照射量（C）b 吸收剂量（C）c 照射量和吸收剂量的关系（C）d 剂量当量（B）4.9.2 影响辐射损伤的因素a 辐射性质（C）b 剂量、剂量率（C）c 照射方式、照射部位、照射面积（C）4.9.3 辐射防护基本措施：监控、记录、剂量限值、屏蔽、距离、时间；a 监控（C）b 记录（C）c 剂量限值（C）d 屏蔽、距离、时间（B）4.9.4 屏蔽、时间和距离的计算（B）5. 射线照相底片评定及标准5.1 评片要求5.1.1 环境、设备和人员要求（C）5.1.2 底片质量要求a 灵敏度（B）b 黑度（B）c 标记（B）d 伪缺陷（B）e 背散射（B）5.2 底片影象分析5.2.1 缺陷影象识别a 裂纹、未熔合、未焊透、夹渣、气孔（A）b 其它（B）5.2.2 常见伪缺陷影象识别a 划痕、压痕、折痕、水迹（A）b 其它（B）5.2.3 表面几何影象识别：结构影象、焊接成型、形状缺陷、表面损伤（C）5.3 JB4730 标准5.3.1 JB4730 标准的一般要求（C）5.3.2 焊缝缺陷等级评定（A）
