1、安徽津利能源科技发展有限责任公司企业标准电网在役支柱瓷绝缘子及瓷套超声波检测通用工艺文件编码: Q/JLKJ-ZDTY-006JJ 文 件 版 本 ： 2014 版发布日期：2014 年 2月 20日 实施日期：2014 年 3月 1日姓 名 签 字 日 期 受 控 分 发 章编 写 樊 传 琦审 核 樊 传 琦版本：2014 第 1 页 共 19 页电网在役支柱瓷绝缘子及瓷套超声波检测通用工艺 Q/JLKJ-ZDTY-006JJ 批 准 余 新 海分 发 ： 金 属 检 测 部 原 件 存 档 处 ： 质 量 安 全 管 理 部此文件产权属安徽津利能源科技发展有限责任公司所有，未经许可，任何
2、人不得以任何方式外传，否则追究相应责任。版本：2014 第 2 页 共 19 页电网在役支柱瓷绝缘子及瓷套超声波检测通用工艺 Q/JLKJ-ZDTY-006JJ 修改认定页序号 原版本号 现版本号 修改章节号 修改日期 生效日期版本：2014 第 3 页 共 19 页电网在役支柱瓷绝缘子及瓷套超声波检测通用工艺 Q/JLKJ-ZDTY-006JJ 目 次前 言 .4前 言 .41适用范围 .52编写依据 .53人员要求 .54检测前准备 .55小角度纵波法 .76爬波法检测 .107双晶横波检测法 .138使用注意事项 .149维护和保养 .1510 环境及职业安全健康控制措施 .15版本：2
3、014 第 4 页 共 19 页电网在役支柱瓷绝缘子及瓷套超声波检测通用工艺 Q/JLKJ-ZDTY-006JJ 前 言为了规范检测活动的实施过程，特制定本通用工艺本标准由公司金属检测部提出并归口。版本：2014 第 5 页 共 19 页电网在役支柱瓷绝缘子及瓷套超声波检测通用工艺 Q/JLKJ-ZDTY-006JJ 电网在役支柱瓷绝缘子及瓷套超声波检测通用工艺1适用范围本通用工艺适用于发电厂、变电站（所） 、换流站、串补站户内和户外外径不小于 80mm 高压支柱瓷绝缘子及径小于 150mm 的断路器、CT、PT（含 CVT） 、避雷器等设备瓷质外套的超声波检测。本通用工艺也适用于发供电行业设
4、备安装和检修时的检测。2编写依据产品使用说明书支柱瓷绝缘子及瓷套超声波检测电网在役支柱瓷绝缘子及瓷套超声波检测3人员要求3.1 操作数字超声仪的检测人员都应经过专业培训，并持有电力部颁发的级或级以上的超声波检验支柱瓷绝缘子及瓷套人员资格证书。3.2 操作人员应熟悉所用设备的基本结构、各部分的作用及本规程。3.3 操作人员应熟悉设备的各部分的作用及本规程。3.4 作好设备的维护保养工作，使之处于完好状态。4检测前准备4.1 检测前准备：应充分了解设备的名称、 ，支柱瓷绝缘子及瓷套的外形结构型式、尺寸、材质等；查阅制造厂出厂和安装时有关质量资料；查看被检支柱瓷绝缘子及瓷套的产品标识，如无，则做好不
5、易去除的唯一性编号标识等。4.2 耦合剂应具有良好的透声性能和润湿能力，且对工件无害，对工艺无害，对工艺无影响,易清除。4.3 检测区域的确定：主要检测区域是上、下瓷件端头与法兰胶装整个区域，重点是法兰口内外3mm 与瓷体相交的区域，如图 1-1 所示。版本：2014 第 6 页 共 19 页电网在役支柱瓷绝缘子及瓷套超声波检测通用工艺 Q/JLKJ-ZDTY-006JJ （a）爬波探头检测支柱瓷绝缘子表面缺陷；（b）纵波斜入射探头检测支柱瓷绝缘子内部及对称外表面缺陷；（c）双晶横波斜探头检测瓷套内部及内壁缺陷4.3 声速测定：声速测定方法如下：（1）采用卡尺测量支柱瓷绝缘子（2）采用千分尽测
6、量支柱瓷绝缘子或瓷伞裙厚度（3）采用 5MHz8mm 直探头，测定被测点实际厚度，将厚度值输入仪器，将无缺陷处第一和二次反射波调节到 80%屏高，并将回波限制在闸门内，仪器将自动进行测试并显示出声速值，也可采用其它有效方法进行声速测定。4.4 扫查方式：将探头置于支柱瓷绝缘子或瓷套的伞裙与法兰间，探头前沿对准法兰侧，并保证探头与检测面的良好耦合。扫查速度不应超进 150mm/s（当采用自动报警装置扫查时不受此限制），扫查覆盖率应大于探头直径的 10%采用爬波检测时，探头庆尽可能向法兰侧前移，保持稳定接触，作周向 360扫查。采用纵波斜探头或双晶横波探头检测时，在移动范围许可的情况下，探头可作前
7、后移动，进行周向 360扫查4.5 检测方法的选择：支柱绝缘子及瓷套的超声波检测采用下述三种方法，当用一种方法探伤时如发现缺陷，可选用另一种方法验证，也可用参考试块作比对试验，以提高检测结果的准确性，检测方法选择如下：版本：2014 第 7 页 共 19 页电网在役支柱瓷绝缘子及瓷套超声波检测通用工艺 Q/JLKJ-ZDTY-006JJ （1）支柱绝缘子及瓷套法兰胶装区表面和近表面缺陷的检测采用爬波法；（2）支柱绝缘子内部和对称侧表面或近表面缺陷的检测采用小角度纵波斜入射法；（3）瓷套内部和内壁缺陷的检测采用双晶斜探头横波法。5小角度纵波法探头的选择：根据被检支柱瓷绝缘子的直径选择相应规格的探
8、头。5.1 探头的选择：小角度纵波单晶斜探头。在移动范围许可的情况下，宜选择较大角度折射角探头，探头的选择见下表。支柱瓷绝缘子规格，mm 80120 120160 160200 200探头晶片尺寸，mmmm 810 810 810 810探头频率，MHz 5 5 5 2.5探头纵波折射角 L 1815 1812 1510 1285.2 扫描时基线比例的调整扫描时基线比例按深度定位法调整。扫描比例依据直径和选用的探头角度来确定，最大检测范围应至少达到时基线满刻度的 60%。5.3 扫查灵敏度调整采用校准试块调整扫查灵敏度。将探头置于试块上，找出试块上深 40mm、1 横通孔最强反射波，调到 80
9、%波高，此灵敏度相当于外径 40mm 支柱瓷绝缘子的扫查灵敏度。支柱瓷绝缘子的外径每增大 10mm，扫查灵敏度提高增益 2dB，当支柱瓷绝缘子声速小于 6100/s 时，应在外径差补偿的基础上再提高增益 2dB4dB。5.4 缺陷的检测对缺陷进行定量（最大把射波幅及指示长度）和位置来测定。缺陷的定量测定方法如下：（1）找到缺陷反射波最大波高，根据调整扫查灵敏度的方法，与相近声程 1mm 横通孔进行当量比较，判定为不小于 1mm 横通孔进行当量或不大于 1mm 横通孔进行当量，记录为1（）dB（2）移动探头，如缺陷波连续存在，采用半波高度法测定缺陷的指示长度，并做好良录。（3）采用小角纵波斜入射
10、法检测时，应对用半波高度法（6）测出的缺陷指示长度进行修正，缺陷指示长度值按下式计算：L=(1-2H/D)L05.5 缺陷指示长度的测定：缺陷长度的测定分为绝对灵敏度法和相对灵敏度法。绝对灵敏度法是一种以缺陷最大回波高度为基准的测长方法。绝对灵敏度测长的方法是当发现缺陷回波时，找到时回波下降的相对于最大高度的某一确定值，记下此时的探头位置，再沿着相反方向移动探头，使缺陷回波下降到与另一侧同样高度时，记下探头的位置。量出两个位置间探头移版本：2014 第 8 页 共 19 页电网在役支柱瓷绝缘子及瓷套超声波检测通用工艺 Q/JLKJ-ZDTY-006JJ 动的距离，即为缺陷的指示长度。相对灵敏度
11、法指的是 6dB 法或半波高度法。6dB 法测长的方法：检测中发现缺陷时，找到缺陷最大回波高度，并将缺陷最大回波高度调整至基准波高（如垂直满刻度的 80%） 。然后将基准波提高增益 6dB。以缺陷最大回波高度点为起始点，沿缺陷长度方向分别向两侧移动探头，当缺陷回波高度降至基准高度时，记录探头位置，测量出两侧探头中心位置之间的距离即为缺陷的指示长度，图 1-4 为 6dB 法的示意图（通常采用比较简便的半波高度法进行测长，操作方法是找到缺陷最大回波高度后，沿缺陷长度方向向两侧移动探头，当缺陷回波高度降低一半时，标记探头位置，测量两侧探头中心位置之间的距离，即为缺陷的指示长度） 。支柱瓷绝缘子缺陷长度的测定一般采用半波高度法。图 1-4 6dB 法测量缺陷长度5.6 回波分析：如显示仅有孤立底波，无杂波，波型清晰，应判定无缺陷，如图 1-5 所示。图 1-5 支柱瓷绝缘子内部无缺陷扫查图
