1、探讨基于 JTAG技术的嵌入式系统测试的各个阶段 更新于 2012-09-21 07:00:37 文章出处:互联网 IEEE 1149.1边界扫描测试标准 嵌入式测试 JTAG技术 引言IEEE 1149.1边界扫描测试标准(通常称为 JTAG、1149.1 或“dot 1“)是一种用来进行复杂 IC与电路板上的特性测试的工业标准方法，大多数复杂电子系统都以这种或那种方式用到了 IEEE1149.1(JTAG)标准。 为了更好地理解这种方法，本文将探讨在不同年代的系统开发与设计中是如何使用 JTAG的，通过借助过去有关 JTAG接入的经验或投入，推动设计向新一代发 展。大多数复杂电子系统都以这
2、种或那种方式用到了 IEEE1149.1(JTAG)标准。如果系统采用的是复杂 FPGA或 CPLD，那么几乎可 以肯定这些硬件是通过 JTAG端口设置的。如果系统利用仿真工具来调试硬件或软件，那么仿真工具也很可能是通过 JTAG端口与微处理器对话。而且，如果系 统中采用了球栅阵列(BGA)封装的 IC，那么 JTAG也是测试 BGA器件与底层印制电路板之间连接的最有效方法。支持 EEE 1149.1边界扫描测试标准的 IC与电路板都具备一个支持 JTAG测试的 4线串行总线(第 5条线为可选的复位线)-TDI(测试数据输入)、TDO(测 试数据输出)、TMS(测试模式选择)与 TCK(测试时
3、钟)。该总线主要支持对焊点、电路板过孔、短路和开路等连接进行结构测试。此外，许多 CPLD和 FPGA 制造商也将 JTAG作为其器件在系统编程与配置的标准方法。JTAG 不但支持结构(互连)测试，如今还是一种用于在系统级实现配置、编程以及混合 信号测试的标准方法。但大多数设计团队都在新设计中对 JTAG的应用更倾向于不一步到位，而是以一种更易掌控的方式慢慢转为全面利 用 JTAG接口。有些团队规则(discipline)中广泛利用了 JTAG接口，有些则只利用了其中很有限的一部分。但每种规则都根据其自身的需要调整 JTAG。在各种规则的共同 作用下，发展出了几代不同的 JTAG应用，每一代
4、JTAG应用都有各自的特点，具有某种增强功能。图 1：第二代 JTAG应用：利用 JTAG多支路复用器简化对多个 JTAG链的接入。由于存在各种各样的 JTAG接入要求，所以开发团队必需采用一种跨规则的 JTAG接入策略以最大程度地发挥 JTAG接入的功能。这种策略对 于实现一种标准方法非常必要，这种标准方法可以复用，并且下一代产品可以基于其构建。为了更好地理解这种方法，我们将探讨在不同年代的系统开发与设计中是 如何使用 JTAG的，目的是通过借助过去有关 JTAG接入的经验或投入，推动设计向新一代发展。JTAG应用的各个阶段在 JTAG应用的第一阶段，只用到了某些有关电路板的特性和功能，有关
5、该方法的整理和标准化工作却做得很少。这是一种最简单的方法，几乎甚至完全不需要进行任何软件工具投资，通常使用 IC厂商提供的免费工具即可。该阶段的 JTAG通常不具备或者只 具备很有限的诊断功能，也没有可用于生成测试或编程的矢量的软件。这时的 JTAG接入只在生产时用于配置 CPLD或对闪存编程。稍复杂一些的板卡也可以用 它来做测试。然而，这并不是成本最低的方法。因为每种规则都有可能会为其自身的需要用一个单独的 JTAG接头(header)，于是一块电路板上就得 用多个 JTAG接头，从而增加了成本，也占用了电路板空间。而且，每种规则可能都会开发它们自己的“自制”软件工具和硬件，以实现与 JTA
6、G特性的交互， 而这些软件工具和硬件对其他规则(discipline)而言却是多余的。所以，采用这种方法开发的产品受其定制开发的影响，很难转移到新一代的产品中 去。如果在生产中采用，这种方法也会增加成本，因为它需要进行多次插入。许多开发团队都被这一代 JTAG应用绑住了手脚。最终，当系统复杂性持续增大时，要保持产品的竞争力，就必需采用一种 JTAG接入策略。第二代 JTAG应用在第二代 JTAG应用中， 不同的开发团队规则对在新板卡设计上采用 JTAG功能进行管理。该阶段的 JTAG应用需要一定程度的 ATPG(自动测试程序生成)软件工具(这类软件工具 具有稳健的诊断功能)投资，用于对编程和测
7、试矢量的开发和传送进行管理。这类 ATPG工具的供应商提供从简单的针对每一任务的矢量生成的支持与咨询服务， 也提供生产用的多任务(multi-seat)全套软件支持。在每块电路板上添加一个策略性 IC器件-JTAG 复用器件，目的是去除电路板上的多个1149.1接头并管理多个 JTAG通路。这个 JTAG复用器件所占用的电路板空间通常比一个JTAG接头还小，但却简化了元件的隔离，也简化了提高接入效率所需扫描路径的组织。例如，开发人员可能会希望将不同厂商的 FPGA隔离在不同的扫描链中，以便简化利用每个厂商提供的工具接入 JTAG的过程。另外，我们可能 还希望将微处理器放在一个单独的扫描链中，从
8、而在仿真工具调试软件或在闪存写程序时，最大程度提高微处理器的运行速度。ATPG 厂商对这些器件都提供了很 好的支持，因此软件支持通常很简单，直接提供交钥匙的方案。图 2：第三代 J：将 JTAG总线的扩展到在整个背板以连接多个板卡。如今我们的第二代设计都只有一个单独的 JTAG接入点，在这种基本配置下，整个板卡的所有仿真、配置和 1149.1测试都可以在一次插入中，在一个测试站(test station)上用一个基于 PC的系统来实现。在这一阶段出现了一种新的 JTAG总线应用-在产品的整个生命周期中都能利用 JTAG接入功能。例如，可以将整个电路板级的矢量图 (vector image)存档
9、，以便在需要现场服务时，对板卡重新编程或调试。同样的接入功能还可以用于现场 FPGA固件升级，或用于诊断一个 FRU(现场可替换单 元)中的问题。返回厂家进行故障分析的设备也可以利用同一组矢量图(以及厂家或开发测试站)来对问题进行隔离。如果说这一代 JTAG应用有什么缺点，那就是开发团队通常还抱着单一板卡的心态。这是一种常有的心态，认为设计团队的责任只局限于其设计的板卡及其接口。然而，如果不能向第三代 JTAG发展，那么这种 JTAG应用就出现了瓶颈，限制了使用 JTAG实现多板卡的能力。第三代 JTAG应用当能够对一个背板上的多板卡系统级使用到 JTAG的特性时，就实现了下一代 JTAG接入
10、。在这种环境下，仍然能够单独实现单板卡级 JTAG功能，而且 还可以利用到板卡间的功能。这一代 JTAG应用不 但促进了单板卡上不同规则的设计团队相互合作，也促进了整个系统下不同板卡设计团队之间的合作。如果在上一代 JTAG应用中采用了一个 JTAG多路器，那 么这个多路器支持多支路(multi-drop)接入。采用一种寻址方案，可以将串行JTAG总线用于多支路配置，提供对多板卡的支持。而一旦 JTAG能 够接入一块背板上的多个板卡，就能实现系统级的配置或编程(例如，JTAG 可以并行接入多块板卡)。如果驱动器/接收器对允许进行 JTAG可接入的全速 BIST(内建自测)，也能测试板卡之间的背
11、板互连，或者可以验证板卡之间的高速 LVDS 串行链接，那么就能对板卡间背板互连的完整性进行测试，或者验证板卡间的高速 LVDS串行连接。或这些高速互连都是电容性耦合，并且驱动器/接收 器支持，则可以进行 IEEE 1149.6测试。利用与第二代同样的设备-一个基于 PC的 JTAG站，就能使用所有这些 JTAG功能。这个基于 PC的 JTAG站用作 JTAG主控设备，通过一组单独的线路连接到背板上的 JTAG接头。这个主控设备负责驱动测试矢量，并管理整个背板上的器件接入 JTAG功能。第 三代 JTAG应用中添加的一项最有意思的新功能，在系统运行时，通过这个边带(sideband)JTAG通
12、道可以访问整个系统。具备了这一功能，这使得 很多系统级功能得以实现，例如在线“健康”状况监测、故障预测、故障检测、故障插入(用于故障转移测试或冗余度测试)以及诊断。第四代 JTAG应用当 测试矢量的传送和管理发生在系统内部时，对 JTAG的应用就达到了最高级别，即第四代。第四代 JTAG应用采用了一个板载 JTAG主控制器来驱动背板 JTAG 总线。同时，还利用板载存储器存储测试矢量，并利用一个微处理器驱动 JTAG主控制器。多板卡系统级主控制器可以位于一块单独的板卡上的，也可以 在每块板卡上设置一个主控制器以增强控制性能。到了第四代，所有前面几代 JTAG应用的 功能都能通过远程方式实现，包
13、括编程、配置、互连测试以及诊断，从而极大降低了现场服务与支持所需的成本。当需要升级一个现场系统的固件时，直接将新的配 置文件下载到 JTAG主控制器上，再由 JTAG主控制器通过背板 JTAG总线将其发给目标器件即可。当然，在生产时只要将主控制器禁用，那么仍可使用基于 PC 的 JTAG接入站，这又进一步增强了灵活性，也在所有集成度上提供了最多的接入选择。JTAG接入可以通过外部或内部启动，也可以由某些系统事件启动，例如系统上电或电源复位。本文小结迄今为止，JTAG 应用与集成中存在的最大障碍，就是如何让人们认识到需要一种基于多个开发规则的策略，并使管理者相信这种策略能够带来经济效益。一旦跨出了这一步，并且采用了 ATPG 支持和 JTAG复用器件，那么就更容易一步步或一代代地循序渐进评估或实现新的 JTAG功能。而且，如果开发团队能够基于先前应用 JTAG的经 验，就能更好地发挥 JTAG总线的功用。增大 JTAG结构的复杂性并不一定会成为系统的负担，恰恰相反，这样才能完全地发挥JTAG作为一个受到广泛支持的，对现代复杂电子系统进行系统级测试、编程、配置和的健康状态监控的工业标准方法的全部价值。
